2014《单片机原理与应用》实验指导书.docVIP

《单片机原理与应用》 实验指导书 目 录 实验一 无符号双字节乘法运算子程序 实验 BCD码与ASCII码转换 实验实验 数码显示实验 实验 8279键盘显示接口实验 实验六 一、实验目的： 熟悉MCS-51指令系统，学会使用Keil C编程软件。熟悉汇编语言编程。 二、实验设备： EL-8051-III型单片机实验箱。 三、实验内容： （1）在（R2R3）和（R6R7）中输入双字节无符号整数。 （2）将（R2R3）和（R6R7）中双字节无符号整数相乘，积存入R2R3R4R5中。 （3）连续或单步运行所编程序。检查R2R3R4R5中的内容是正确。 四、实验原理： R6 R7 R2 R3 R4 R5 B A B A B A B R2 B+B+A R3 R4+A+A R4 R5 实验调试 打开Keil,新建Keil项目； 选择CPU类型为ATMEL中的AT89C52单片机； 根据流程图新建汇编源程序（*.asm），并保存； 在项目管理器窗口（project windows）中，将新建的ASM源程序添加到“source group 1”中； 在Keil中选择“project”→“build target”菜单，编译汇编源程序，如有错，修改后重新编译； 选择“debug”→“start/stop debug session”菜单，进入程序调试环境； 按“F11”键，单步运行程序，观察“project windows”中，寄存器R0~R7的变化情况，最后验证R2R3R4R5无符号双字节相差的结果是否正确（可和程序/附件计算器的相乘结果对比）。 六、参考程序 实验二 BCD码与ASCII码转换程序 一、实验目的： 熟悉MCS-51指令系统，学会使用Keil C编程软件。熟悉汇编语言编程。 二、实验设备： EL-8051-III型单片机实验箱。 三、实验内容：50H开始的单元中，，学号为01的同学，将11 50H、05 51H、09 52H、41 53H、01 54H。然后编程将50H~54H中压缩的BCD码转换成ASCII码，并由低到高存放在60H开始的单元中。 四、参考程序 实验三 P1口实验 一、实验目的： 学习P1口的输出输入使用方法。 学习延时子程序的编写和使用。 二、实验设备： EL-8051-III型单片机实验箱。 三、实验内容： P1口做输出口，接八只发光二极管，编写程序，使发光二极管循环点亮。 P1口做输入口，接八个按纽开关，以实验箱上74LS273做输出口，编写程序读取开关状态，在发光二极管上显示出来。 四、实验原理： P1口为准双向口，P1口的每一位都能独立地定义为输入位或输出位。作为输入位时，必须向锁存器相应位写入“1”，该位才能作为输入。8031中所有口锁存器在复位时均置为“1”，如果后来在口锁存器写过“0”，在需要时应写入一个“1”，使它成为一个输入。 可以用第二个实验做一下实验。先按要求编好程序并调试成功后，可将P1口锁存器中置“0”，此时将P1做输入口，会有什么结果。 再来看一下延时程序的实现。现常用的有两种方法，一是用定时器中断来实现，一是用指令循环来实现。在系统时间允许的情况下可以采用后一种方法。 本实验系统晶振为6.144MHZ，则一个机器周期为12÷6.144us即1÷0.512us。现要写一个延时0.1s的程序，可大致写出如下： MOV R7，#X （1） DEL1：MOV R6，#200 （2） DEL2：DJNZ R6，DEL2 （3） DJNZ R7，DEL1 （4） 上面MOV、DJNZ指令均需两个机器周期，所以每执行一条指令需要1÷0.256us，现求出X值： 1÷0.256+X（1÷0.256+200×1÷0.256+1÷0.256） 0.1×10? 指令（1） 指令（2） 指令（3） 指令（4） 所需时间 所需时间 所需时间 所需时间 X 0.1××10?-1÷0.256 /（1÷0.256+200×1÷0.256+1÷0.256） 127D 7FH 经计算得X 127。代入上式可知实际延时时间约为0.100215s，已经很精确了。 五、实验原理图： 六、实验步骤： 执行程序1 T1_1.ASM 时：P1.0～P1.7接发光二极管L1～L8。 执行程序2 T1_1.ASM 时：P1.0～P1.7接平推开关K1～K8；74LS273的O0～O7接发光二极管L1～L8；74LS273的片选端CS273接CS0（由程序所选择的入口地址而定，与CSO～CS7相应的片选地址请查看第一部分系统资源，以后不赘述）。 七、程序框图： 循环点亮发光二极管 通过发光二极管将P1口的状态显示 八、参考程序： 实验四 数码显