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Upper Control Limit UCL Center Line CL Lower Control Limit LCL 连续七点下降 数据点连续上升或下降的原因可能有: 测量系统已经发生变化 过程性能已发生变化 控制界限的更换篇 P- Chart 控制界限建立以后并非一成不变，而根据实际控制状况加以调整，在过程发生以下变化时，需重新计算控制界限。 1.过程流程发生变化， 2.现有过程出现失控，经过改善 过程重新受控后， 3.对过程的普通原因进行改善后 分析过程能力篇 P- Chart P图分析过程能力的前提条件： 过程受控 测量系统可接受 根据计算出的过程能力指数可以直观评价过程能力，如能达到6σ标准,则过程不合格率为3.4个PPM P图的过程能力的度量指数为 P 附录: 常数表 X - R Charts X - S Charts X Chart R Chart X Chart S Chart Sub- group Size Factor for Control Limit Divisor for Estimate of Standard Deviation Factor for Control Limit Factor for Control Limit Divisor for Estimate of Standard Deviation Factor for Control Limit n A 2 d 2 D 3 D 4 A 3 c 4 B 3 B 4 2 1.880 1.128 - 3.267 2.659 0.7979 - 3.267 3 1.023 1.693 - 2.574 1.954 0.8862 - 2.568 4 0.729 2.059 - 2.282 1.628 0.9213 - 2.266 5 0.577 2.326 - 2.114 1.427 0.9400 - 2.089 6 0.483 2.534 - 2.004 1.287 0.9515 0.030 1.970 7 0.419 2.704 0.076 1.924 1.182 0.9594 0.118 1.882 8 0.373 2.847 0.136 1.864 1.099 0.9650 0.185 1.815 9 0.337 2.970 0.184 1.816 1.032 0.9693 0.239 1.761 10 0.308 3.078 0.223 1.777 0.975 0.9727 0.284 1.716 * * * * * Violation of standard operating procedures: Wrong machine parameters setting Build into the production processes : Contribution of machine design, process design, floor vibration * * Ask participants to list one example for each of the variable data attribute data. Variable data: Temperature, height, weight, length, etc. Discrete continuous. Attribute data: Lifted bond lifted on pad, lead , swaging, crack, etc. Damage lead, damage frame, moldgate problem, punch break, etc. Yes or no, pass or fail, right or wrong, good or bad. * * * * * 控制界限的更换篇 X –MR Chart X R Chart 控制界限建立以后并非一成不变，因为过程永远是处于波动的，因此控制界限需定期检讨，以判断是否需要更换控制界限，检讨控制界限的周期，应根据过程变化而定。 过程流程发生变化时： 如增加或减少某个工序，改变了某个工序的作业方法或作业步骤，这可能导致过程位置和分布发生变化，这种变化可能使有控制规格不再适用。 使用新的设备： 新设备的使用可能导致过程位置和分布发生变化，这种变化可能使原有控制规格不再适用。 现有过程发生失控，经过改善过程重新受控后： 现有过程失控，再改善完成后过程均值及分布均与改善前出现差别，旧有规格已不再适用，需重新计算控制规格。 对过程普通原因进行改善后： 过程能力的提高是与引起过程变异的普通原因的消除紧密相关，在对过程能力改善后，过程均值更