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用于水泥基材料微观结构研究的计算机断层扫描技术 贾耀东 阎培渝0 概述水泥基材料的微观结构，有多种方法如压汞法（Mercury intrusion porosimetry, MlP），背散射电子图像法（Backscattered electron, BSE）和扫描电镜法（Scanning electron microscopy, SEM）。尽管这些方法推进水泥基材料的研究但也存在显著的缺点。首先，这些方法制样和测试过程可能对样品造成一定程度的损害改变试件的微观结构其次，测试得到的是间接结果，无法与实际微观结构直接相关，如交流阻抗谱法（(alternating current impedance spectroscopy, ACIS）；第三，这些方法不能“透视”被测物，得到试样内部的最直观的信息。研究时实验方法联合使用才能得到相对全面的实验结果。计算机断层扫描Computed Tomography，以下简称 CT）技术诞生于1972年，是核技术、计算机技术和数字化图象重建技术三者相结合的产物。从上世纪80年代初开始，CT开始逐渐应用于水泥基材料的研究领域。[1] 从直接使用医用CT仪，到采用高功率工业CT仪，[2-3] 再到使用巨型同步辐射光源CT仪，[4~7] CT经历了30年的发展历程。分辨率也从最初的1mm/像素，达到了小于1μm/像素。其研究内容也从最简单的水泥浆体三维可视化到微观结构的定量分析和耐久性研究。 与传统的微观结构分析方法相比，计算机断层扫描技术(Computed Tomography，以下简称CT)的突出优势在于：首先不用对试样进行干燥、真空等预处理，试验可在被测试件原始状态下进行，这就避免了预处理对试件可能造成的损害；其次，试验环境可在室内正常环境下进行，即可以实现水泥试件微观结构的连续观察；第三，也是CT方法最大的优点，可以对被测物进行“透视”，并给出被测试件的三维空间图像。 本文在前人研究成果的基础上，对CT技术原理、分类进行概述，对CT方法在水泥基材料微观结构研究中的应用加以总结，最后了作者利用最新一代的Nano-CT（分辨率64nm/像素）研究水泥浆体过渡区的实例。 CT的技术原理假设线性衰减系数为μ的均质材料，被能量为E的狭窄单色光束穿过，此时初始光线强度和透射后光线强度，满足如下Beer-Lambert定律： （1） 式中，L为材料厚度。 对于非均质材料，可以用材料衰减系数μ沿射线路径方向上的积分代替原有的μL，于是上式变为： （2） 对上式两边取对数： （3） 此时P即为该材料在射线方向上的投影。 研究表明，射线在混凝土材料中的衰减直接和材料的原子密度相关。[] 在对混凝土试件进行CT测试时，射线通过单一轴面照射被测物，衰减后的射线强度被放置在另一侧的探测器接收。随后试件转动一个很小的角度(通常为1o)，再次进行照射。由于不同角度下穿过试件的射线衰减不相同，探测器就得到了不同角度下射线的衰减值。经过对被测物体不同角度的扫描（一般至少为180o），射线衰减结果被以矩阵的形式存储在计算机中2 CT的分类 一个典型的CT系统由射线源，旋转载物台，探测器和计算机四部分组成(图1)。采用X射线作为光源时，通过测量不同方向上X射线的衰减，最终获得3D影像，是目前采用最多的CT检测手段。绝大多数的医用CT仪采用的都是这种CT装置。X 射线CT的优点是光源取材方便，技术相对成熟；缺点是光源能量低，对于密度较大的材料，X 射线的衰减率较大。根据I.L. Morgan计算，[1] 初始能量为100KeV的X射线，在穿过厚度为20mm的水泥浆后，强度衰减为起始值的1/2，在穿过厚度为30cm的水泥浆后，强度衰减为起始值的0.003%。对于较为难以穿透的材料，为了获得较好的图像，可采用增大X射线能量的办法，但高能量的X射线会缩小水泥浆体不同组分的灰度值，使得依靠不同灰度值区分不同水化产物变的更加困难。此外高能量X射线也会使设备的经济性变差。 根据分辨率的不同，目前用于水泥基材料微观机构研究中的X射线CT又可以分成微米CT(Micro-CT)和纳米CT(Nano-CT)两种，其主要差别为分辨率的高低。一般把分辨率为1um/像素左右的CT称为Micro-CT，而把分辨率为nm/像素级别的CT称之为Nano-CT。目前，分辨率最高的Nano-CT的分辨率可达50nm/像素。 除了X射线CT外，还同步辐射CT(Synchrotron Computed Tomography), 中子射线CT(Neutron Computed Tomography)，和超声CT(Ultrasonic Computed Tomography)等不同类型。不同种类CT之间的主要差别是