47013讲座(射线).pptVIP

重点介绍8：滤光板技术原理、特点、标准规定 使用滤光板为什么能够提高灵敏度？ 注意： 1、滤光板位置：加在工件和暗盒之间。 2、低能射线一般不采用，主要应用于中等能量的γ射线，如：Ir192、Co60等。 3、滤光板作用：减少康普顿效应的散射线，降低散射比。（暗盒中的铅箔厚度一般比较薄，能够阻挡光电效应的低能散射线，但对阻挡康普顿效应的中等能量散射线不够有力，滤光板厚度0.5-2mm，对阻挡康普顿效应的散射线比较有力）。 附录A 管子－管板角焊缝射线照相技术要求 A1　范围 本附录规定了管子－管板角焊缝的X射线和γ射线检测技术和质量分级要求。 本附录适用管壳式列管热交换器和管壳式反应器的管子与管板角接焊接接头的射线检测。被检测的管子内径应在12.5mm～80mm，厚度1.5mm～5mm范围，用于制作焊接接头的金属材料包括钢、钛及钛合金、镍及镍合金、锆及锆合金，焊接型式为密封焊。 本附录规定的射线检测技术分为三级：A级——低灵敏度技术；AB级——中灵敏度技术；B级——高灵敏度技术。 管内径更小的管子－管板角焊缝射线检测也可参照本部分，但需要使用更小的源棒尺寸并选择合适的工艺参数；强度焊角焊缝射线检测也可参照本标准，但灵敏度和缺陷评级应另作规定。 各类别的特性指标，标准关于针对不同技术等级和检测对象选择胶片类别的具体规定 4.2.2　射线胶片 4.2.2.1 胶片系统按照GB/T 19348.1分为六类，即C1、C2、C3、C4、C5和C6类。C1为最高类别，C6为最低类别，胶片系统的特性指标见附录B。…… 4.2.2.2 胶片制造商应对所生产的胶片进行系统性能测试并提供类别和参数……。 对照老标准JB/T4730-2005： 3.2.1 胶片系统按照GB/T 19348.1分为四类，即T1、T2、T3和T4类。T1为最高类别，T4为最低类别. 重点介绍3 新的胶片系统分类 新标准关于针对不同技术等级和检测对象选择胶片类别的具体规定 5.4　胶片选择 5.4.1 A级和AB级射线检测技术应采用C5类或更高类别的胶片，B级射线检测技术应采用C4类或更高类别的胶片。 5.4.2 采用γ射线和高能X射线进行射线检测时，以及对标准抗拉强度下限值Rｍ≥540MPa高强度材料射线检测时，应采用C4类或更高类别的胶片。 5.14.3　灰雾度测量 胶片灰雾度应不超过0.3。应从购进胶片中按批抽样，采用与实际检测相同的暗室处理条件处理，然后进行灰雾度测量。经过测量的胶片如果6个月还没使用完，应再次测量，以核查胶片是否符合4.2.2规定的储存要求。 标准中关于Yb169 和Tm170射线源 应用的规定：4.2.1　射线装置关于新放射源4.2.1.1 可以使用两种射线源： a）由X射线机和加速器产生的X射线；b）由Co60、Ir192、Se75、Yb169 和Tm170射线源产生的γ射线。 5.5.1　胶片透照技术本部分允许以下两种胶片透照技术：a）单胶片透照技术使用单张胶片。X射线（≤100kV）和Tm170射线源只允许采用单胶片透照技术。 重点介绍5：孔型像质计 重点介绍5：孔型像质计 5.12　像质计的使用 5.12.1　像质计放置原则 ……阶梯孔型像质计一般应放置于被检区中心部位的焊接接头热影响区以外，在不可能实现的情况下，至少应放置于熔敷金属区域以外。当一张胶片上同时透照多条焊接接头时，像质计应放置在透照区最边缘的焊缝处 。 重点介绍5：孔型像质计 5.12.6　像质计影像识别 使用阶梯孔型像质计时，底片上能够识别的最小孔的编号即为像质计灵敏度值，当同一阶梯上含有两个孔时，则两个孔都应在底片上可识别 表6　孔型像质计灵敏度值——单壁透照、像质计置于源侧 表8 孔型像质计灵敏度值——双壁双影透照、像质计置于源侧 表10　孔型像质计灵敏度值——双壁单影或双壁双影透照、像质计置于胶片侧 重点介绍6：限制球罐γ射线全景曝光技术应用 球罐全景曝光技术应用背景和优缺点 1 单壁外透法 2单壁内透法 3 单壁内透偏心法 新标准中限制球罐全景曝光的条款 从两个方面：1、限制曝光时间和限制使用多源曝光的规定；2、球罐全景曝光像质计摆放位置和数量。 5.9.3　采用Co60γ射线源透照时，曝光时间不应超过12h，采用Ir192γ射线源透照时，曝光时间不应超过8h，且不得采用多个射线源捆绑方式进行透照。 5.12.1 b）单壁透照中，如果像质计无法放置在源侧，允许放置在胶片侧（球罐全景曝光除外）； 一般单壁透照中，如果像质计无法放置在源侧，允许通过对比试验修正灵敏度后放置在胶片侧，而球罐全景曝光不允许。 5.12.2 b）球罐焊接接头采用源置于球心的全景曝光时，在上极和下极焊缝的每张