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2009年统计过程控制(SPC)培训教材 组电池工厂.品质管理部 2009.1.1 1.基础统计概念 什么是数据？ 数据是针对一个总体或样本的某些特性收集的定量事实和测量值。 举例 数据-工程不良数 总体-2008年组电池总产量 样本-2008年12月的总产量 数据-男性身高 总体-北京男性人数 样本-三洋男性人数 总体的类别 静态总体 所有组成部分固定不变的总体。 如：一副扑克牌中52张不同的纸牌。 动态总体 其组成部分随时间而变化的总体。 如：三洋组电池的产量。 数据的类型 计量型数据 一般是由物理测量得到的数据。 如：重量、长度、密度等。 计数型数据 一般是计算数据或非测量数据。 如：合格/不合格、通过/不通过，不合格品数等。 计量型数据的简单统计值 平均值 平均值或（∑x /n）。 众数 一组数据中出现频率最高的值。 中位数 一组数据中的中间值。 （从小到大排列，中间样本的值） 极差（绝对的分布宽度） X -X 标准差 缩写介绍 LSL: lower spec line/下规格线 USL: upper spec line/上规格线 LCL: lower control line/下控制线 UCL: upper control line/上控制线 C L: center line/中心线 练习1 NO.1的数据比较分散,NO.2的数据比较靠近平均值 2.数据收集策划 策划数据收集的关键因素1 合理划分子组 子组内:变差最小,可确定控制线。 子组间:时间或批次有差异,评估数据长期稳定性。 抽样方法 瞬时法:抽取子组样本固定在或尽可能固定在某一时间。 如:上午8点抽取的尺寸测量测试样品5个(连续抽取) 阶段法:在一个周期内取样,以便能代表所有的产品 如:上午8点到9点间抽取的CPK样品5个 (分散在8点到9点间进行)。 策划数据收集的关键因素2 怎样选择适当的子组 思考一个例子:L-01进行LV,需要测试30个完成品尺寸验证 金 型:1,2,3,4,5,6 每个金型的抽样数量为5个,分别为: 1-1,1-2,1-3,1-4,1-5 2-1,2-2,2-3,2-4,2-5 依次类推 6-1,6-2,6-3,6-4,6-5 子组内为:1-1,1-2,1-3,1-4,1-5 2-1,2-2,2-3,2-4,2-5 3.控制图分析 4.计量型控制图 计量型控制图的基础与选择 计量型控制图通常是成对地绘制,如: 1. - R (均值极差图:子组大小较小,如小于10,难于计算标准差) 2. - s (均值标准差图:子组大小较大,如大于10,易于计算标准差) 3. X-MR (单值移动极差图:子组大小为1,获得数据所需要的成本很高) 这样便于子组内变差与子组间变差进行比较. 子组间:通过X-BAR图或X图监视特殊原因. 子组内:由R或S图监视普通原因 X-bar R图 X-bar图 中心线/CL = 控制线/UCL= 控制线/LCL= m=子组数 , , =常数 练习2 练习2 X-bar R图 练习3 X-bar R图 X-bar S图 X-bar图 中心线/CL = 控制线/UCL= 控制线/LCL= m=子组数 , , =常数 练习3 练习3 X-bar S图 根据下表给出的数据计算X-bar R图的中心线（CL)，控制限上限（UCL)和控制限下限（LCL)。 练习3 X-bar S图 X-MR图 X图 CL = UCL= LCL= m=子组数 , =常数 练习4 练习4 X-MR图 根据下表给出的数据计算X和MR图的中心线（CL)，控制限上限（UCL)和控制限下限（LCL)。 练习4 X-MR图 5.计数型控制图 计数型控制图类别 不合格品数据 1.P图 (不合格品率控制图) 2.np图 (不合格品数控制图) 不合格数据 1.c图 (不合格数控制图) 2.u图 (单位产品不合格数控制图) 不合格品:不能满足一个或多个产品规范要求或检验标准的单元产品或服务; 不合格(缺陷):是指不能满足预期的某一质量特性或检验标准 p图公式-子组大小可变 CL = UCL= LCL= =子组i的不合格品数 =子组i的子组大小 练习5 练