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数字电路测试方法的发展 数字电路测试方法的发展 数字电路测试方法的发展 数字电路测试方法的发展 第1.2 节 穷举测试法 1.2.1 基本思想 在n维布尔空间，如果对任何测试矢量均满足下关系： f*(x)=f(x) 即实际输出响应恒等于无故障输出，则被测电路就是无故障电路。因此，穷举测试就是用未经简化的完备测试集的测试。测试长度n=2n 。 优点： 测试质量高，d=1； 数学模型简单，只需一个n维测试矢量发生器，输出2n个测试矢量即可。 缺点：测试长度太长，计算费时。且随n的增加按指数增加。 例：n=180 则测试长度为 2n = 2180 = 1054 如用计算机辅助测试，测试速率为10Msa/s=107个测试矢量/秒 则需时： 1054 /107 = 1047 秒=3x1039年！！ 至今宇宙寿命才15亿年=1.5x1039年，显然，这是无法实现的！！ 第1.2 节 穷举测试法 伪穷举测试法：将被测电路划分为若干子模块，再对子模块进行穷举测试，则可大大减少测试长度，而同时具有穷举测试的优点。 如分为两块：n=n1+n2 则有： 2n =2n1 x2n22n1 +2n2 如：n=9 29=512 分成2块： n1=4, n2=5 分块进行穷举测试：