发展中的ICP光谱分析技术.docVIP

发展中的ICP光谱分析技术 辛仁轩 北京 清华大学 从法塞尔等人建立ICP发射光谱技术到现在已经四十多年，ICP仪器商品化也有三十余年，目前ICP光谱分析技术已经成为无机元素分析最通用的分析技术之一。上世纪80-90年代是其技术和仪器的高速发展时期，而其后则是该技术推广应用快速发展时期. 有多种类型的ICP光谱仪商品可供选用 固定通道ICP光谱仪；顺序扫描ICP光谱仪；全谱直读中阶梯交叉色散（电视型，固体检测器）ICP光谱仪；分段扫描固体检测器ICP光谱仪；凹面光栅线性CCD检测器ICP光谱仪 检出限明显降低， 特别是远紫外和金红外光谱区的元素，线背比有了很大的提高，精密度明显改进，检出限有显著降低，这与分析光系统的发展，新的光电检测器件应用，光源的观方式的多样化分不开。从1980年到2006年，As193nm的检出限从150ppb降到1.5ppb，其它元素也有改善。 测定精密度改善 由于分光系统稳定的改进，测定所有元素短期精度和长期稳定性都有改善，目前许多仪器同时测量多元素的短期精度可达到0.5%以下甚至更低。 仪器机构更加紧凑，使用方便是ICP仪器的发展方向。 应用领域在快速增长 对于ICP光谱技术的研究兴趣在降低，但应用在快速增加 ICP光谱技术的不足 氩气耗量大； 通用雾化进样系统效率过低； 复杂基体样品的光谱干扰不易解决； 不能测定样品中元素的形态和价态 研究和发展 为了降低ICP光源工作气体氩气的用量，试验过分子气体，水冷炬管，小炬管，低功率炬管，陶瓷炬管等均不成功。近年研究的SHIP光源是有希望的一个发展方向，其氩气好了不起过1L/min，高频功率1100w条件下，检出限接近通用的ICP 光源，用于实际样品测定性能满足分析要求。 进样系统是ICP光谱技术的难题之一，自从ICP技术开发开始，进样系统就是研究的重点。主要困难在于ICP光源要求载气流量低于1L/min，使得气动雾化器的结构变得十分精细，雾化效率低，对于可溶性固体很敏感，结构脆弱，不耐氟盐，而等离子体对于水蒸汽的承受量很低，虽经过数十年的研究，没有根本解决，但取得了不少进展，摸清了一些规律;第一，气动雾化器在较低进样量时可有较高雾化效率，部分补偿进样量的降低导致谱线强度的降低，第二，进样量的降低可能增加换样清洗时间，由此设计出直接进样高效雾化器（DIHEN)，把雾化器和炬管组合在一起提高效率，减小记忆效应，同时提高对色谱峰的分辨，用于形态分析，第三，把不易调和的要求分别解决，用巴宾顿雾化原理解决高盐问题，用降低进样量解决效率问题，用工程塑料解决耐腐蚀问题，设计出各式商品雾化器，分别满足不同类型样品分析的要求， ICP光源对分光系统的主要要求是高分辨能力，宽波长覆盖范围，良好稳定性，高工作效率，以及机构合理性。由于固体检测器与中阶梯光栅的应用使得分光系统取得重要进展。第一代固定通道ICP光谱仪典型线色散是0.55nm/mm，第二代顺序扫描型1m焦距光栅3600g/mm，波长范围170-500nm， 倒色散为0.28nm/mm，如果用2400g/mm光栅，不错范围1700-7700nm，倒色散为4nm/mm。第三代全谱直读ICP光谱仪的倒色散是0.006~0.008nm/mm（200nm），紫外光区分辨能力有显著提高，因而由光谱干扰而产生的问题有一定程度的减少，简化建立分析方法过程，对ICP技术的广泛应用有推动作用。 分析条件的选择：由重视检出限和灵敏度转向重视降低基体效应。传统的分析条件试验内容是载气流量（压力），高频功率及观察高度，而其目标是选择较高的灵敏度和较好的检出限，而实际经验告诉我们，在仪器工作状态正常途径下，其改进潜力是有限的，而对样品分析更重要的是的到可靠的分析数据，研究表明，从基体效应来看，分析条件可分为两类;稳健性条件和非稳健性条件，前者对于基体的变化较不敏感，而后者敏感。具体是用MgII/MgI来衡量。 高频电源的频率的影响27.12MHz？40.68MHz? 这两个频率对分析性能有点影响，但并不严重，都可应用，而且都用的很好，得到的分析性能也差别不大，但由于非技术的原因有时也会成为问题。早期27.MHz用的多，近期40.68MHz多些。从等离子体温度和电子密度测定结果可以看到他们的差别，但差别不大，从检出限看，数据有些矛盾，总体来看，各有特点。