集成电路测试项目及方法.docVIP

南科电子有限公司 Advanced Technology Co.Ltd. 集成电路测试项目及测试方法 振荡频率： 一定电压下，让IC自由振荡，用示波器或万用表从OSCO口或从IC TEST脚测得： 示波器测量:将示波器的地线接电源负极，测试表笔接频率测试口,观察示波器屏幕上的 波形，两波峰或两波谷之间的时间间隔的倒数即为所需频率值。 万用表测量:将万用表的功能选择旋钮置频率档，万用表的黑表笔接电源地，红表笔接频 率测试口，显示屏上显示的数值即为测得的频率值 二、静态电流（SIDD）： 一定电压下，让IC处于无负载、无振荡状态，将电流表的一端接电源的正极，另一端接IC的VDD脚，电流表的读数即为IC 的静态电流。 三、无负载工作电流（DIDD） 驱动电流: 一定电压下，将IC的负载用可调电阻代替，让IC正常工作，当输出口有输出时，调节可调电阻的阻值，使IC输出端的电平满足DATASHEET的要求： 示波器测量:一般来说IC都以脉冲形式输出，用示波器确定输出电流时，将示波器的两 支表笔接可调电阻的两端，抓取波形后，测得波形的幅值与电阻阻值之比即为测得的驱动电流。 电流表测量:采用给IC灌脉冲的方式，使IC的输出端呈输出状态，将电流表与可调电阻 串联，读取电流表值即为测得的电流值。 钟表类产品测试方法 一、晶振匹配 ①测试仪器：稳压源、晶振测试仪。 ②测试方法：按照引线图接上晶振，按产品工作电压典型值供电，让上电的COB靠近晶振测试仪的感应平台，并根据要求选择面板上相应按键S/d或S/m，若显示相应读数值在规定范围内，则此晶振匹配，将此晶振插入晶振测试仪测试孔，测试其PPM值，并做好相关记录，若读数值超出范围，则此晶振不匹配，重复以上过程，找出与产品匹配的晶振（时钟IC一般要求S/d值误差在±2S内） 二、起振电压、起振时间 ①测试仪器：稳压源、万用表、机芯（微安表） ②测试方法：按照如下引线图，将产品引脚与稳压源接好，并把稳压源与一个万用表并联。根据打线图接上晶振，在马达引脚处接上相应的机芯（或微安表），电源调至某一个值，合上开关，等待一段时间，观察相应的机芯（或微安表）的指针能否正常摆动，若不能，再调高至另一个值，如此重复，找出能使指针正常摆动的最小电压，即为起振电压。再将电源调低至1.5V，合上开关的同时用秒表记下指针从不动到开始正常摆动的时间，即为起振时间。 拟制： 审核： 批准： UA OSCO OSCI VSS VDD UA OSCO OSCI VSS VDD OUT VSS A m 示波器地线 VDD 示波器地线 OSCO TEST 示波器信号线 万用表黑表笔 OSCO TEST 万用表红表笔 VDD OUT VSS VSS 示波器信号线 VDD VDD VSS VR VR + ˉ VDD VSS OSCIN OSCOOT VDD MOT1 VSS MOT2 OSCIN OSCOOT + ˉ 机芯 V