统计过程控制spc剖析.ppt

品质指标评判等级： 指标 等级 范围 说 明 Ca A 0~0.1 理想状态，继续维持 B 0.1~0.3 尽可能改善为A极 C 0.3~0.5 规格应用有误或检讨规格作业标准 D 0.5~0.7 立即检查并予以改善 E 0.7~1.0 采取紧急措施，并全面检讨，必要时考虑停产 F ＞1.0 立即停止生产纠正错误 图形综合应用 指标 等级 范围 说 明 Cp A ＞3.0 制程稳定性很好，理论理想状态 B 1.67~3.0 制程理想状态，继续保持 C 1.33~1.67 制程稳定性与成本比理想级，符合客户要求 D 1.0~1.33 尽可能改善为C级 E 0.83~1.0 产生不良品，产品最好全检，改善制程 F 0~0.83 采取措施，寻找原因，改善品质，检讨规范 图形综合应用 指标 等级 范围 说 明 Cpk A ＞2.5 品质过好，考虑成本 B 1.67~2.5 品质理想状态，继续保持 C 1.33~1.67 品质与成本比理想级，符合客户要求 D 0.83~1.33 尽可能改善为C级 E 0~0.83 采取措施，寻找原因，改善品质，检讨规范 图形综合应用 THE END！ * * * * * * * * 进入PARETO图界面: (Stat—Quality toolsPareto chart) 在“Chart defects data in”中输入各因素不良数所在列 在“Chart defect table”中输入影响因素所在列 OK 图形制作与分析—6 PARATO柏拉图 图形制作与分析—6 PARATO柏拉图 图形制作与分析—7 Xbar-R均值极差图 均值极差图通常用来监控制程品质状态及发展趋势，了解品质的进展状态，比较常用。 均值极差管制图 解析管制图 （监控和测定初期品质） 制程管制图 （品质状况的对比、衡量） 1.图形制作 a.计算Xi、Ri、X、R Xi= n ΣXi Ri=Max（Xi） Min（Xi） X K ΣXi = =XCL R= ΣRi K =RCL 图形制作与分析—7 Xbar-R均值极差图 b.计算管制限 UCLX=X+A2R LCLX=X-A2R CLX=X UCLR=D4R CLR=R LCLR=D3R b.1 查表法 图形制作与分析—7 Xbar-R均值极差图 b.2.2 计算管制上下限 b.2 计算法 b.2.1 计算标准差 Σ(Ri - R)2/(I – 1) Rσ= Xσ= Σ(Xi－X)2/K LCLX=X－3Xσ UCLX=X+3Xσ 图形制作与分析—7 Xbar-R均值极差图 c.绘制图形(应用Minitab软件) 叠加各列: (Manip—StackStack Columns) 进入X-R图界面: (Stat—Control chartsXbar-R) 在“Single column”中输入叠加后数据所在列 在“Subgroup size”中输入子组容量 OK 图形制作与分析—7 Xbar-R均值极差图 c.绘制图形 图形制作与分析—7 Xbar-R均值极差图 d.图形分析 规格界限：相关部门制订的标准或要求达到 的期望值。 管制界限：通过计算得出的控制上下限。 二者之间存在如下关系： 图形制作与分析—7 Xbar-R均值极差图 （a） 管制界 限 规格界 限 （b） （c） 图形制作与分析—7 Xbar-R均值极差图 （d） 图形制作与分析—8 Xbar-σ均值标准差图 均值标准差图的作用同均值极差图相似，同样也分为解析管制图和制程管制图两类，但极差值受子组内个别值的影响较大，而标准差值则相对较小，这一点在每组样本数在10以上时表现得较为明显。 1.图形制作 a.计算Xi、Si b.计算中心线及管制上下限 Xi= n ΣXi Σ(Xi - X)2/(n – 1) Si= b.1 计算中心线 S= ΣSi ΣSi n b.1.1 均值图CL(同X/bar图) b.1.2 标准差图CL 图形制作与分析—8 Xbar-σ均值标准差图 b.2计算管制上下限 b.2.1 均值图UCL、LCL(同X/bar图) Σ(Si - S)2/K σ= b.2.2 标准差图UCL、LCL UCLS=CL+3σ LCLS=CL－3σ c.绘制图形(同X-R图) 图形制作与分析—8 Xbar-σ均值标准差图 d. 图形分析 图形制作与分析—8 Xbar-σ均值标准差图 图形制作与分析—9Mid-R中位数极差图 Mid-R图是对Xbar-R图 和Xbar-σ图的