SPC统计制程教材详解.ppt

* 制程能力分析 4.不良率P (綜合評價) (1) ZU =3CP(1+Ca)超出下限Pu% ZL =3CP(1+Ca)超出上限Pu% P%=PU%+PL%總不良率 (2) ZU= (Su-X)/3 ? , ZL (X-SL)/3 ? 5.定義 (1) X:制程平均值 (2) T:公差 (3) ?:制程標准差 (4) Sc:規格中心 * 制程能力分析 例:某產品的電性規格是560±10m/m,經檢驗一批後求出X ±3 ?為561 ±9m/m. 求:(1) Ca (2) Cp (3) Cpk (4) P% 統計程式管制 知行企業管理諮詢有限公司 * * 長條圖的類型 ---高原形 可能構成的原因:不同平均值的分配混在一起. * 長條圖的類型 --- 雙峰形 可能構成的原因: 有兩種分配混合 * 長條圖的類型 --- 絕壁形 可能構成的原因:數據經過全檢過,或制程本身 經過經過全檢. * 長條圖內的面積分布狀況 68.27% 95.45% 99.73% +1 σ -3 σ -2 σ -1 σ +3 σ +2 σ μ * 管 制 圖 定義: 是一種以實際產品品質特性與根據過去經驗所判明的 制程能力的管制界限比較，而以時間順序用圖形表示者. 依管制圖用途分類: 一. 管制用管制圖 先有管制界限,後有數據.用於控制制程之品質.確定研究的物件是否處於統計性管制狀態，在表現超越界限時發出警號。 二. 解析用管制圖 此種管制圖先有數據,後有管制界限.決定方針用/制程解析用/制程能力研究用/制程管制之准備，預測某個表現的可持續性 * 管制圖依數據之性質分類 一.計量值管制圖:用於產品特性可測量的﹐如長度﹑重量﹑面積﹑溫度﹑時間等連續性數值的數據.有﹕ 1. 平均值與全距管制圖 ( X-R Chart) 2. 平均值與標准差管制圖 ( X-δ Chart) 3. 中位值與全距管制圖 ( X-R Chart) 4. 個別值與移動全距管制圖 ( X-Rm Chart) 二. 計數值管制圖:用於非可量化的產品特性﹐如不良數﹑缺點數等間斷性數據﹒有﹕ 1. 不良率管制圖 ( p Chart) 2. 不良數管制圖 (np Chart) 3. 缺點數管制圖 ( C Chart) 4. 單位缺點數管制圖 ( u Chart) ～ * 計量值管制圖的用途 平均值與全距管制圖 ( X-R Chart) 平均值與標准差管制圖 ( X-δ Chart) 個別值與移動全距管制圖 ( X-Rm Chart) 2 2 2 用於調查製造工程是否處於安定狀態. 發掘制程中的非機遇原因。 用於更好的測量製造中變化的狀況。 當只能取得少量資料時使用;如:小規模及短暫的批量生產。 中位值與全距管制圖 ( X-R Chart) 2 ～ 用於調查製造工程是否處於安定狀態. 計算方法簡便。 * 計數值管制圖的用途 P 圖 np 圖 c 圖 u 圖 2 2 2 2 在樣本數量變化的情況下，跟蹤不良率。 在樣本數量固定的情況下，計算不良品的數目。 在固定大小的單位裡，視察瑕疵的數目。 在樣本大小不同的情況下，測量每單位瑕疵的平均數目。 * X R CHART X 代表各組的平均值 R 代表每組中的最大值與最小值之差 X 代表所有測量值平均值的平均值。 R 代表各組全距的平均值。 X 平均圖 管制下限 LCL= X - A 2R 管制中心線 CL= X 管制上限 UCL= X + A2 R R範圍圖 管制下限 LCL= D3R 管制中心線 CL = R 管制上限 UCL= D 4R * 練習六： 請參照講師提供的公司適用表格, ，學習 平均值與全距管制圖 ( X-R Chart)的繪製與應用 * X AND δ CHART X平均圖 上限 = X - A 1δ 中心線 = X 上限 = X + A1 δ δ標準誤差圖 下限 = B3 δ