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1. 仪器概述 1.1 仪器配置 1 a. 主机单元 1 b. 计算机系统 6 c. X射线发生器单元 7 d. 热交换器 8 e. ASC48 和ASC96 9 1.2 仪器规格 10 a. 光谱仪主单元 10 b. 计算机系统 17 c. X射线发生器单元 18 d. 热交换器 20 e. ASC48 和 ASC96 21 1.3 组件说明 22 a. 仪器主机单元 22 b. X射线发生器单元 30 c. 热交换器 30 d. ASC48 和 ASC96 30  1.1 仪器配置 下面介绍本仪器的概要和配置。 a. 主机单元 外部样品交换器 外部样品交换器由一个样品转塔和一个门阀组成。转塔上可以放置12个样品；门阀用于将样品准备室（预抽室）与大气隔离，以便抽真空。 放在储样器上的样品通过门阀被装入到样品室中，并被分析。分析完成后，样品又被送回到转塔上。 其他样品交换器选购项 ： 一样品装载机、ASC48和ASC96 。 样品室 上照射型光谱仪（ZSX100e/s）配有内部样品上举机构和样品表面定位机构。上举机构可以将内部转塔和样品上举到X射线照射位置。 下照射型光谱仪（ZSX101e/s）配有内部样品提升和样品盒支撑机构。提升机构可以将内部转塔和样品提升到X射线照射位置。 这些机构能保证样品位置的一致性，从而保证分析的高精度。 样品台 上照射型（ZSX100e/s）和下照射型（ZSX101e/s）光谱仪均配备有一个样品转动机构和一个r-θ定位机构。 样品转动机构在测量时使样品按30 rpm （每分钟30转）的速度旋转。 r-θ定位机构除了可以使样品按30rpm 的速度旋转外，还可以在使用小直径视野光栏时将样品移动到X射线辐照强度最高的测量位置。因此，当使用分布分析机构（选购项）进行测量时，可以分析样品上的任意位置，并可对整个样品进行分布分析测量。  初级X射线滤光片 初级X射线滤光片安装在X射线管与样品之间，其作用是消除X射线管特征线对被测谱线的重叠干扰，并消除X射线管产生的不必要的背景辐射，提高探测灵敏度。 端窗型光谱仪（ZSX100e 和ZSX101e）中，使用一种12位置旋转型的初级束滤光片机构，第一号位置上安装的是屏蔽样品的X射线快门。 侧窗型光谱仪（ZSX100s和ZSX101s）中，使用一种2位置进/出型初级束滤光片机构。 视野光栏 X射线管产生的X射线不仅照射被测样品，同时也照射样品面罩和样品盒。样品面罩和样品盒也会产生其构成材料的荧光X射线和散射X射线。如果这些X射线进入探测器，分析精度就会降低。本仪器配备了视野光栏，可以屏蔽掉样品面罩、样品盒等产生的X射线，使仅由样品产生的X射线被探测。 视野光栏粗略地分为12位置型、6位置型和固定型。12位置型又分为两类：一种用于样品旋转机构，另一种用于r-θ样品台。 衰减器 确定最佳X射线强度必须考虑分析精度和漏计数两种因素。当仪器配备有12位置型视野光栏时，也同样带有衰减器，以调节X射线强度。衰减器固定安装在样品台前端的滑动机构中。衰减比是1/10。  准直器 样品受X射线管产生的初级X射线照射时，会在所有方向产生荧光X射线和散射X射线。 准直器安装在样品和晶体之间，使同一方向的X射线通过并到达晶体。准直器由一些平行排布的薄片组成，这些薄片平行于X射线取出方向，从而抑制垂直发散度、提高谱线的分辨率。 有两种类型的准直器系统可供选购：4位置交换器型、固定型。 4位置交换器型中有3个可以安装准直器的位置。3个位置上分别安装高分辨率准直器、标准准直器和用于非常轻元素测量的准直器。 固定型上安装有标准准直器。 用于非常轻元素测量的准直器的薄片间的距离最大。这些元素受光路气氛吸收的影响。 标准准直器用于测量普通的重元素和轻元素。 高分辨率准直器的薄片间的距离最小，用于对非常靠近的谱线的分光。 接收准直器 接收准直器安装在探测器的前部，其作用是提高光谱的分辨率和峰/背比。 闪烁计数器配有高分辨率准直器和高灵敏度准直器（选购项），测量时由计算机控制自动切换。 测角仪 测角仪由θ轴、2θ轴和SC 2θ轴构成。θ轴用于转动晶体、2θ轴用于转动流气式正比计数器；SC 2θ轴安装在2θ轴上，用于转动闪烁计数器。每个轴都可以独立驱动。 由于θ轴和2θ轴可以独立驱动，因此可以用闪烁计数器和正比计数器对同一个LiF(200)晶体衍射的X射线进行计数。 由于配备了SC 2θ轴，因此闪烁计数器的接收准直器可以切换，使串联测量成为可能。 晶体交换器 可从10晶体交换器和4晶体交换器中进行选择。两种类型的交换器都是通过旋转来改变晶体。  探测器 本仪器采用闪烁计数器和流气式正比计数器作为探测器。 通常，闪烁计数器用于