四点探针量测仪使用操作手册.doc

四點探針量測儀使用操作手冊 作者： 余沐榮 , 光電碩一 , 分機 : 4692 ( 2007 / 7 / 30 ) 四點探針量測儀(Four-Point Probe)可以測量導體及半導體的電阻。本設備主要用途為量測半導體薄膜電阻，即片電阻係數(Sheet Resistivity)，單位為 Ω/?? 或 ohms per square。 (符號 ?? 代表對一片面積做量測，並不是代表 cm2) 可量測樣品規格為 : (1) 2吋至6吋晶圓 (表面須為平整的導電薄膜) (2) 破片 : 至少2公分見方以上 操作步驟如下: 打開靠近四點探針儀側面(右手邊)的電源開關，接著按下電腦Power ON鍵後，隨即進入主畫面。 測量破片時，請勿將待測樣品置於狹縫之中，以避免探針損壞，如下圖所示 : 進入畫面後，點選Yes。 點選選單中的Password ( Log ON ( 鍵入 Shift + 123 ( OK。 點選選單中的 Utilities ( Control 進入操作介面。 如下所示 : Cassette 操作介面沒有作用(勿動)。 ProbeArm : 調整探針懸臂的移動位置 Position : 調整懸臂前進與後退(透過左右箭頭) (上下箭頭)則是移動的間距，以便進行微調 Home : 驅動探針懸臂馬達回到開機前的位置 ChunkRot : 調整吸盤(置放待測樣品的平台)的移動位置 Position : 調整吸盤的位置(R為逆時針旋轉，T為順時針) (上下箭頭)則是移動的間距，以便進行微調 Home : 驅動吸盤馬達回到原位置 ChunkElev : 調整探針懸臂的移動位置 Position : 調整懸臂向上與向下移動(控制升降) (上下箭頭)則是移動的間距，以便進行微調 Home : 驅動探針懸臂馬達回到原位置 舉例 : 上述的動作也可以透過點選 ( Probe To ( R = 60 mm Th(角度) = 50 deg ( OK ) 來加以調整探針與吸盤的相對位置(以不互相碰撞為原則)。 如下圖所示 : ※上述為量測破片時，所設定的參考值，也可依照使用者喜好來加以設定。 將待測樣品置入吸盤(Chunk)上，調整 ChunkRot 和 ChunkElev 至適當的位置，並確認四根探針有實際碰觸到待測樣品(實際上還是有露出部分探針)，此時，千萬不能調整 ChunkRot 否則探針會因吸盤轉動產生的力矩而使探針斷裂。 ※ 當探針懸臂與待測樣品越靠近時，切記要將ChunkElev上下的移動 間距調小，以便進行微調，目的是使探針和樣品表面能實際碰觸到， 並避免造成探針突然朝下快速接觸樣品，造成機件損壞。 舉例 : 若探針與待測樣品實際接觸時，透過 ChunkElev 對應的 Position 刻度為 6.166 mm 時，此時點選 Parameter Files 下的 Motion Coord 進入畫面後。 設定ZChkContact (代表探針與待測樣品的接觸深度)與上述ChunkElev 中的 Position 刻度同為 6.166 mm，再點選下方的 Ok And Save ( Save as ( 4pMtCrd??.prm(註 : ?? 由使用者決定檔名)，以便在下次量測時， 將檔案叫出來進行檢視所設定 Position 刻度。 (※註 : 上述條件為限定每次待測樣品的厚度均為一致時才適用) 接下來，按一下 Probe Separate ，目的是使原探針和樣品能夠分離開來，避免因誤觸 ChunkRot 而造成探針的損壞。 點選 GainSet 以進行量測，隨後會出現如下圖所示的參數值(代表正常) 測完後，點選一下下圖中的紅色圓圈 ( 按一下 Probe Separate 以便進行下一次量測 此時，可以移動待測樣品，以便對不同的探針扎點進行量測，作為比較參數之用 (附註 : 探針和樣品間的深度會影響測量值的可重覆性) 或是執行 Repeatability ( 點選 Static (靜態量測) 則 dTh (微角度) 需設定為零，並鍵入一開始所設定的 R = 60 mm ， Th(角度) = 50 deg ，以針對某一待測點進行單點多次量測，一般而言，量測次數是設定為5次，依使用者而定，其中 ProbeCfg 設為”1”時，為量測塊電阻，設為”2”時，為量測片電阻，至於點選 Dynamic (動態量測) 則需設定 dTh (