露点仪原理及其应用.docVIP

摘要：芬兰维萨拉公司（?vaisala?）的露点仪由于使用?DRYCAP?湿度传感器及零点自动校准，增益回归三项专利技术，使得在低湿或?/?及存在腐蚀性化学物质气体分子情况下准确测量相对湿度，从而计算出相应的露点仪成为现实，在测量高于负?60?度的露点时其精度保证在正负?2?度以内，精度稍低时，可达到?-80?度露点。?主体词：?DRYCAP?湿度传感器?自动校准技术?增益回归技术?一?引言?现今测量露点普遍采用的方法有三种：冷镜法，金属氧化物法和聚合物法。?冷镜法可以在很宽的测量范围内取得较高的精度，但由于它的光学测量原理的局限性使其极易受镜面污染物和灰尘的影响从而影响精度并且不易区分霜点及露点，为克服上述缺点，测量系统往往附加许多额外设备提供镜面清洗、防护等功能，造成整套设备比较昂贵，此种测量方法往往用于精度要求极高且具有良好的操作、维护的条件，如实验室，对于大多数在线测量则维护成本较高。?金属氧化物传感器，包括?AL2O3?传感器用于工业过程控制中的低露点测量，正确使用时可以测得很低的露点，缺点是长期稳定性差，由于测湿敏器件本身造成的漂移使得频繁的标定工作必不可少，传感器不能在线标定，大多数情况下要送到原厂标定且标定成本较高，这将会影响日后的准确测量、正常生产，增大维护、工作量，而且金属氧化物传感器在高湿或冷凝的情况下一旦受损，其功能将无法恢复。?芬兰维萨拉公司（