单片机电容测量仪设计实训报告简介.doc

江西科技师范大学 通信与电子学院 《综合设计实训》报告 实训题目： 单片机智能电容测量仪的设计与制作 小组成员：王文博 罗寰涛 廖京 班 级：12电信职本（1）班 指导老师：尤国平  实训选题内容、要求 1.实训选题内容： 电容容量是电学理论分析与电路设计中的重要参数。电容容量测量的主要方法有电桥平衡法、谐振频率测量法或脉冲宽度测量法等等。交流电桥虽然测量准确但存在笨重、操作繁琐、不能自动测量的缺陷。目前一般的数字万用表测量电容的最大值仅为20 F， 且测量精度有限， 遇到要测量较大的电容时往往无能为力。 2.设计要求 1、基本(1) 自制稳压电源、绿色发光管指示接通电源，正常工作。 (2) 被测电容的容量在0.01μF至0μF范围内 (3) 根据测量量程。 (4) 用个数码管显示测量结果，测量误差小于0%。 (5) 当电容值超出上述范围时测量仪溢出报警，色发光管LED点亮。 2、被测电容的容量扩大到1000PF至100μF范围内。 测量误差小于%。当电容短路时测量仪发出，色发光管LED点亮。 实训计划和人员安排 实训计划： 5月20日到5月23日，建立设计思想，并把硬件电路图仿真出来，尽量与实际的焊接想吻合，确定实训用的元器件。 5月24日到5月26日，查找资料，了解硬件与软件指令的匹配方法，把实训的软件部分编写好，与硬件部分大体的结合，实现仿真。 5月27日到6月8日，查找相关元器件的管脚图，进行电路的焊接与调试，使得电路的设计与制作达到实训的相关要求，录制视频。 6月10日到6月20日，制作PPT，完善实训报告，准备答辩的相关事宜，提交实训的相关材料。 具体分工 王文博：题目要求分析，方案的讨论，仿真电路图，实训报告，作品的焊接与调试。 罗寰涛：题目要求分析，方案的讨论;收集相关资料。制作ppt。 廖京 : 录制视频与购买元器件。 三、方案比较： 方案1： 利用纯模拟电路 虽然避免了编程的麻烦，但电路复杂，所用器件较多，灵活性差，测量精度低，现在已较少使用。 方案2： 采用CPLD或FPGA实现 应用目前广泛应用的VHDL硬件电路描述语言，实现电容测试仪的设计，利用MAXPLUSII集成开发环境进行综合、仿真，并下载到CPLD或FPGA可编程逻辑器件中，完成系统的控制作用。但相对而言规模大，结构复杂。 方案3：利用振荡电路与单片机结合 利用555多谐振荡电路将电阻，电容参数转化为频率，而频率f是单片机很容易处理的数字量，一方面测量精度高，另一方面便于使仪表实现自动化，而且单片机构成的应用系统有较大的可靠性。系统扩展、系统配置灵活。容易构成各种规模的应用系统，且应用系统有较高的软、硬件利用系数。单片机具有可编程性，硬件的功能描述可完全在软件上实现，而且设计时间短，成本低，可靠性高 经过比较我们选择方案3 五、方案实现 （1）系统概述 利用单片机（STC89C52）制作智能电容测量仪，由LCD1602显示电容测量结果，复位按键实现重复测量。 设计框图 （3）元件介绍 ①STC89C52 AT89C52是一种带4K字节FLASH存储器（FPEROM—Flash Programmable and Erasable Read Only Memory）的低电压、高性能CMOS 8位微处理器，俗称单片机。AT89C52是一种带2K字节闪存可编程可擦除只读存储器的单片机。单片机的可擦除只读存储器可以反复擦除1000次。该器件采用ATMEL高密度非易失存储器制造技术制造，与工业标准的MCS-51指令集和输出管脚相兼容。由于将多功能8位CPU和闪速存储器组合在单个芯片中，ATMEL的AT89C52是一种高效微控制器，AT89C52是它的一种精简版本。AT89C52单片机为很多嵌入式控制系统提供了一种灵活性高且价廉的方案。引脚排列如图所示。 AT89C52 提供以下标准功能：4k 字节Flash 闪速存储器，128字节内部RAM，32 个I/O 口线，两个16位定时/计数器，一个5向量两级中断结构，一个全双工串行通信口，片内振荡器及时钟电路。同时，AT89C52可降至0Hz的静态逻辑操作，并支持两种软件可选的节电工作模式。空闲方式停止CPU的工作，但允许RAM，定时/计数器，串行通信口及中断系统继续工作。掉电方式保存RAM中的内容，但振荡器停止工作并禁止其它所有部件工作直到下一个硬件复位。 ②晶振 晶振即晶体振荡器 ，是指从一块石英晶体上按一定方位角切下薄片。石英晶体的每次振荡使计数器减1。当计数器减为0时，产生一个中断，计数器从保持寄存器中重新装入初始值。这种方法使得对一个计时器进行编程，令其每秒产生60次中断（或者以任何其它希望的频率