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荷兰帕纳科XPert PRO MPD型 x射线的产生原理 测角仪示意图 XPert PRO MPD型衍射仪 θ-θ光路示意图 晶体结构分析 XRD常用于晶体结构分析，测定晶胞参数，甚至点阵类型，晶胞中原子数和原子位置。如测定晶胞参数在研究固态相变、确定固溶体类型、测定固溶体溶解度曲线、测定热膨胀系数等。晶胞参数的测定是通过X射线衍射线的位置（θ）的测定而获得的。 各晶系的面间距和晶胞体积公式 多晶X射线衍射仪 主要内容 X射线衍射仪的原理 X射线衍射仪的操作方法及注意事项 X射线衍射仪的应用简介 日本理学D/MAX2500VL/PC型X射线衍射仪 一、X射线衍射仪的原理 布拉格方程 2dsin?＝n? 物质结构中，原子和分子的距离正好落在X射线的波长范围内（0.5-2.5埃），当X射线入射到晶体时，基于晶体结构的周期性，晶体中各个电子的散射波可相互叠加 ，称之为相干散射，这些相干散射波相互叠加就产生了衍射现象。散射波周期一直相互加强的方向称为衍射方向。 X射线粉末衍射图 400 强度 111 200 220 311 222 331 420 422 511,333 440 531 600,442 20 30 40 50 60 70 8