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任务1认识数字量和逻辑门电路资料

1.3 逻辑门电路 1.3.3 集成逻辑门电路 2.CMOS集成门电路 (4) CMOS门电路的使用注意事项 1)输出端: ①不允许直接与电源VDD或与地相连。这会使输出级的NMOS管和PMOS管可能因电流过大而损坏。 ②为提高电路的驱动能力,可将同一集成芯片上的电路的输入端、输出端并联使用。 ③当CMOS电路输出端接大容量负载电容时,需在输出端和电容之间串接一个限流电阻,保证流过管子的电流不超过允许值。 2)对闲置输入端的处理: ①对于与门和与非门的闲置输入端可接高电平,或门和或非门接低电平; ②闲置输入端不宜与有用输入端并联使用,因为这样会增大输入电容,从而使电路的工作速度下降; ③闲置输入端不允许悬空 3)4000系列的电源电压可在3~18V的范围内选择,HC系列的电源电压可在2~6V的范围内选用,HCT系列的电源电压在4.5~5.5V的范围内选用。 4)焊接时烙铁功率一般不超过25W,必须接地良好,必要时利用余热焊接。 1.4 集成门电路的测试 1.训练目的 2.设备与器件 1)掌握TTL和CMOS集成门电路的逻辑功能和器件的使用规则。 2)学会TTL和CMOS集成门电路传输特性的测试方法。 5V直流电源、逻辑电平开关、逻辑电平显示器、直流数字电压表、双踪示波器、连续脉冲源、CD4011、CD4001、CD4070、74LS00、电位器RP(10kΩ)。 3.电路原理 图1-58 电压传输特性测试电路 图1-59 与非门对脉冲的控制作用 1.4 集成门电路的测试 4.训练内容 1)验证各门电路的逻辑功能,判断其好坏。验证与非门CD4011、74LS00及或非门CD4001逻辑功能。 输 入 输 出 A B Y1 Y2 Y3 Y4 0 0 0 1 1 0 1 1 图1-60 与非门逻辑功能测试 表1-16 与非门逻辑功能测试结果 1.4 集成门电路的测试 4.训练内容 2)观察与非门、与门、或非门对脉冲的控制作用。选用与非门按图1-59所示接线,将一个输入端接连续脉冲源(频率为20kHz),用示波器观察两种电路的输出波形,记录之。 3)分别测试74LS00和CD4011的传输特性。按图1-58接线,调节电位器RP,使ui从0向高电平变化,逐点测量ui和uo的对应值,记入表1-17中。 ui/V 0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 … uo /V uo /V 表1-17 与非门测试特性测试结果 1.4 集成门电路的测试 4.训练内容 4)按图1-61连接训练电路并测试真值表,记入表1-18中。 A B C Y1 Y2 0 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 1 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1 表1-17 测试真值表 图1-61 组合逻辑电路测试 1.4 集成门电路的测试 5.训练总结 1)总结与非门、与门、或非门对脉冲的控制作用。 2)根据表1-17测试结果,绘出74LS00和CD4011的传输特性曲线,并比较。 3)写出训练总结报告。 1.5 逻辑笔的设计与制作 1.5.1 逻辑笔的设计 逻辑笔是测量数字电路较简便的工具。使用逻辑笔可快速测量出数字电路中有故障的芯片。图1-62所示为利用六反相器CD4069与发光二极管组成的简易逻辑笔电路,发光二极管用于提供以下3种逻辑状态指示: 绿色发光二极管亮时,表示逻辑低电位。 红色发光二极管亮时,表示逻辑高电位。 如果红、绿两色发光二极管同时闪烁,则表示有脉冲信号存在。 逻辑笔也称逻辑检测探头,它是数字电路中检测各点逻辑状态的常用工具。数字电路中的逻辑状态一般分三种,即高电平“1”、低电平“0”和“高阻态”(悬空)。逻辑状态的测试结果可由发光二极管来显示,也可用发声器来提示,还可用数码管来显示。 1.5 逻辑笔的设计与制作 1.5.1 逻辑笔的设计 图1-62 用CD4069与发光二极管组成的逻辑笔电路 1.5 逻辑笔的设计与制作 1.5.2 元器件的选择与组装 图1-62中,反相器可用CD4069(六反相器),其管脚排列如图1-52所示,用一个芯片即可;二极管VD1和VD2无特殊要求,可选1N4148;限流电阻取R3=R4=100Ω;脉冲展宽电路中取R1=R2=1kΩ,C1=C2=100μF,电阻和电容取值不同,输出脉冲宽度不同;探针P可用万用表表笔棒代替;电路所需直流电源VDD可取自测量电路,可用一对鳄鱼夹(或表笔棒)引出。 元器件选择好后即可在线路板上进行焊接,焊接完成核对无误后,即可进行通电测试,一般情况下,只要元器

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