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;第三部分 结构分析;X-射线结构分析 电子衍射结构分析;1 X—射线的本质;2.1 连续X—射线谱;短波限（ ?SWL)的概念：;连续谱的特点： 1）U?（i,z不变)，I ?，?SWL?， ?m ?; 2) i ? （U不变), I ?, ?SWL和 ?m 不变； 3）z ? （U,i不变), I ?, ?SWL和 ?m 不变.;2.2 标识X—射线谱;1）标识X—射线谱产生条件 对于给定的阳极靶材，管电压达到某一特定值UK 2）产生原因 阳极靶材的内层电子被入射电子激发或电离时，原子就会处于能量较高的激发状态，此时外层电子将向内层跃迁以填补内层电子的空缺，从而释放特征X-射线;2）产生原因（接上页） L层?K层跃迁，形成K?谱线，L层的不同亚层向K层跃迁，形成K?1和K?2谱线； 若M层电子向K层空位补充，则辐射波长更短的K? 射线； 在K激发态下，L层电子向K层跃迁的几率远大于M层跃迁的几率，所以K?谱线的强度约为K? 的五倍。;3)标识X—射线谱的特征 波长对一定阳极靶材有严格恒定数值；波长不受管电压、管电流的影响，只决定于阳极靶材的原子序数（Mosely Law)； 标识谱的强度随管电压和管电流的提高而增大； 对于多晶体材料衍射分析，希望入射X射线的单色性最好，即I特/I连最大。一般当U/U特=4时， I特/I连最大。通常，X射线管的工作电压=（3—5） U特。 ;光 电 效 应 ;第2讲 X-射线衍射的几何原理;X射线衍射;1） 布拉格方程的导出 用布拉格定律描述衍射几何时的基本假设： 把晶体看做是由许多平行的原子面堆积而成 把衍射线看做是原子面对入射线的反射;;;2） 布拉格方程的讨论 选择反射; 反射级数; 产生衍射的极限条件; 衍射花样和晶体结构的关系;缺点：; 布拉格定律是进行晶体结构分析的必要条件; 其充分条件必须同时满足强度理论(结构不消光).;衍射矢量方程和厄瓦尔德图解法;;2) 厄瓦尔德图解法;;厄瓦尔德图解法;X射线衍射束的强度;单胞的相干散射;如图所示，假定O为晶胞的一个顶点，取其为原点，A为晶胞中任一原子j,它的位置矢量为：;相位差为：; 若晶胞内各原子的原子散射因子分别为：f1, f2, …,fn, 各原子的散射波与入射波的相位差分别为：?1，?2，...,?n 则晶胞内所有原子相干???射的合成振幅为： ;于是，结构因子可表示为：;3.2 结构因子与系统消光;1 点阵消光 ：由于面心或体心有附加阵点而引起的FHKL=0。;点阵类型;第4讲 多晶体分析方法;;5.1 粉末法成相原理(衍射几何);平面底片照相示意图;衍射花样的测量和计算;测量衍射线条的相对位置;5.3 衍射花样的指数化;; 标定基本步骤（以不对称安装为例）;;5）测量衍射线对间距2L（对前衍射线）和2L’（对后衍射线）;6) 计算有效周长S ;8）计算sin2θ 9）确定晶格类型及标注衍射线的指数HKL； 10）计算面间距d值； 11）计算晶格常数;第5讲 劳埃法及其应用;1 劳埃照相法简介;连续X射线： 对应厄瓦尔德球半径： 令： 所有位于A、B两个反射球之间的倒易阵点都能满足衍射条件。对于任一波长 ，其衍射矢量方程为：;;同一晶带的倒易阵点位于过原点的倒易阵点平面上;晶带椭圆的大小取决于：晶带轴与入射线的夹角?。;第7章 X-射线物相分析;1 定性物相分析;1.1 定性物相分析的原理;1.4 基本分析方法;2.1 基本原理;2.2 主要分析方法简介;1）内标法;两式相比：;;2）K值法;;第8章 点阵常数的精确测定;8.1 点阵常数精确测定的原理;以立方晶系为例，点阵常数的计算公式为：; 若各?角下的测量误差相同，则高?角对应的sin?误差比低?角对应的sin?误差小。;对布拉格方程微分，可得;点阵常数的相对误差 与cot?成正比。;8.2 德拜—谢乐法的系统误差;;1） 单轴应力状态;此时，试样各晶粒中与轴向平行晶面的面间距d也相应变小，如右图示。因此，可用晶面间距的相对变化表示径向应变：;对布拉格方程微分，可得;2) 平面应力状态;根据弹性力学理论，主应力和主应变之间的关系通过广义虎克定律描述：;由右图可知，σφ即为σψ在XY平面的投影;根据布拉格方程，引入面间距相对变化表征的应变εψ：;3 实际测量方法;第10章 织构的测定;10.1 织构的概念;织构的种类(1);金属材料由于塑性变形(轧制、挤压、 锻造、拉伸等），使得晶体取向不断 变化，热变形织构比较复杂。但金属 冷变形后的织构比较确定。;变形后的金属在加热过程中会发生再 结晶。根据热加工工艺的不同可以发 生回复、再结晶、晶粒长大及二次再 结晶等现象。再结晶晶粒的形核与 长大均受变形