§5原子吸收与原子荧光光谱法1005研究.ppt

思考题原子荧光法和原子吸收法在仪器上有何异同？ 基本要求： 了解原子吸收/原子荧光光谱法的基本原理； 了解原子吸收/荧光光谱仪的基本结构和主要部件的工作原理和作用； 掌握空心阴极灯和各种原子化器的特点及分析性能； 了解干扰的类型及消除方法； 掌握原子吸收光谱分析方法 Principle of Atomic Spectroscopy H He Li M Energy Emission (?e) Absorption(?a) Ionization Absorption(?a) Emission (?e) Ground state Excitation level Ionization V: Ionizsation potential En, Em: Excitation potential ? E = En - Em = h? En Em V Be 作业： P66: 10，13 * * * * 电离干扰 来源：高温导致原子电离，从而使基态原子数减少，吸光度下降。 电离干扰 A Ax C1 C2 消除办法： （1）采用低温火焰——影响原子化 （2）加入消电离剂 如测Ba（5.21 eV），加入0.2％KCl， K（4.3 eV） K——K+ ＋ e Ba+ ＋ e ——Ba 常用：CsCl、KCl、NaCl 光谱干扰 光谱干扰包括: 谱线干扰和背景干扰。 谱线干扰：干扰物与分析物谱线分辨不开所　　　　　造成的干扰。 来源：a) 在光谱通带内有一条以上的吸收线； 　　 b) 在光谱通带内有一条以上的发射线； c) 在光谱通带内有吸收线重叠。 消除：减小出射狭缝； 　　　另选分析线； 　　　分离干扰元素。 背景干扰——由于火焰分子发射、分子吸收和光散射所引起的光谱干扰。 分子发射背景干扰—— 来源：由火焰分子所发射的分子光谱所造成。 消除：光源调制。 分子吸收——火焰中生成的氧化物等气体分子吸收光源辐射所引起的干扰。 光散射——火焰中固体微粒对光的散射所造成的假吸收现象。 1）邻近线背景校正（双线，The two-line correction method） 利用吸收线和非吸收线的吸收特性进行矫正。 参比谱线选择： 参比线与测量线很近（保证背景一致）； 待测物基态原子不吸收参比线； 参比线是测量原子的非共振线或元素灯内惰性气体元素的谱线。 ?1 ?2 基态原子 + 背景 Ab AT 1为共振线；2为邻近线 2）连续光源背景校正（The continuum-source correction method） 校正原理：利用锐线源和连续光源交替通过原子化器分别测定吸光值， 然后通过差减进行 校正： AH=Aa+Ab AD=Aa’+Ab=Ab 则 A=AH-AD=Aa 优点：装置简单，能扣除0.5A(约70%吸收) 局限性： 所扣的平均背景值不一定代表分析波长处的真正背景； 两个光源的光斑大小及能量分布不同，且光斑很难完全重叠； 只适用于紫外区域(190~350nm)。 3）塞曼效应背景校正（The background correction based on Zeeman effect） 荷兰 塞曼 Zeeman效应 是指在磁场作用下简并的谱线发生分裂的现象。Zeeman效应分为正常Zeeman效应 和反常Zeeman效应 。 ?0 ?0 ? ? ?+ ? - ?+ ? - H =0 H 0 正常Zeeman效应 反常Zeeman效应 ?+ 塞曼扣背景 校正原理：根据原子谱线的磁效应和偏振特性使原子吸收和背景吸收分离来进行校正。对单重线而言，分裂成振动方向平行于磁场的 ? 线（波长不变）和垂直于磁场的 ?? 线（波长增加或降低，并呈对称分布）由谱线的磁特性和偏振特性来区别被测元素吸收和背景吸收。 塞曼效应校正背景的方法可分为两大类： 光源调制法和吸收线调制法。 由于施加磁场的方式不同，每一类又可分为恒定磁场和交变磁场两类。 恒定磁场 吸收线调制法——原子化器中谱线分裂所产生的? 线的振动方向始终平行于磁场（图中B和D）。 B i）当通过偏振器光的振动方向（图中A）垂直于磁场或?线振动方向时，只有背景吸收该偏振光，得AB； ii）当通过偏振器光的振动方向（图中C）平行于磁场或?线振动方向时，则背景和原子?线均吸收该偏振光，得AB+A； iii）旋转偏振器，产生的信号交替进入检测器，经电子线路自动进行差减，得到净吸光度A。 A C D AB AB+A 优点： 波长范围宽（190~900nm）； 两条光束通过吸收区的部位完全一致，校正准确度较高； 可用于强背景校正（Ab可高达1