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二、小信号增益特性 三、大信号增益特性—增益饱和特性 第三节 增益系数与受激辐射截面的关系 第二章 工作物质的增益特性 第一节 工作物质的光谱线型 第二节 工作物质的增益特性 第三节 增益系数与受激辐射截面的关系 第一节 工作物质的光谱线型 一、工作物质自发辐射光谱线加宽 及加宽谱线线型函数 二、自然加宽(或寿命加宽) 三、碰撞(或压力)加宽 四、多普勒加宽 五、实际加宽和综合加宽 一、工作物质自发辐射光谱线加宽 及加宽谱线线型函数 确定激光器可输出光束的频率范围和增益特性。 实际上粒子的自发辐射不可能是理想的单一频率，总是有一定宽度的。自发辐射是分布在对应的跃迁能级玻尔频率： 为中心的一定频率范围之内。 粒子的运动、粒子间相互作用以及粒子周边环境的影响，可 导致谱线进一步加宽。 若自发辐射总光强为 ,则对应于频率分布在 范围 内光强为 ； 3、谱线的自然宽度（自然加宽） 纯自发辐射引起的谱线加宽---自然加宽。即在不考虑粒子运 动、粒子间相互作用、粒子周围环境的影响，粒子处于孤立 静止状态下的自发辐射几率决定的谱线宽度。 4、气体工作物质的谱线加宽机制 （1）、碰撞加宽（压力加宽） （2）、多普勒加宽（Doppler) （来自光学多普勒频移） a、光学多普勒效应 b、粒子数按中心频率的分布 c、多普勒加宽 （3）、实际气体工作物质谱线加宽 对于实际气体工作物质而言，上述三种谱线加宽机制同时存 在，属综合加宽。从理论上可以近似用洛仑兹函数和高斯函 数的卷积积分来表示。 通常需要通过实验测量荧光光谱来确定其线型。 *固体工作物质谱线加宽机制： （1）、Stark加宽（斯塔克加宽） 激活离子在其周围基质晶体 晶格场的作用下，其发光频率将 发生改变--- Stark效应。 由于基质晶体 晶格热振动影响，离子自发辐射谱线将加宽– Stark加宽。 在基质晶体各处温度T相同的情况下，离子受到基质晶体晶 格场的作用都是相同的，则谱线为均匀加宽，其线型函数可 以近似用洛仑兹函数来表示。严格来说，其线型函数需通过 实验来测定。 （2）、固体中不均匀性引起的加宽（掺杂不均匀加宽） 缺陷、掺杂不均等。发光离子在基质中掺入的位置不同，则 受到晶格场的作用不同，而使谱线加宽。属非均匀加宽。 线型函数需通过实验来测定。 第二节 工作物质的增益特性 一、增益系数表达式 二、小信号增益特性 三、大信号增益特性—增益饱和特性 一、增益系数表达式 以四能级系统工作物质为例推导、说明