电导率的测定_材料导电性能的测量技术方案.pptVIP

材料导电性能的测量 材料电阻的测量方法 测量材料电阻的方法，根据材料的电阻大小不同，采用的测量方法各异。 主要的测量方法： 惠斯顿单电桥法 双电桥测量法 电位差计测量 直流四探针法 1、惠斯顿（Huiston）单电桥法 惠斯顿单电桥测量原理图 图中CD之间串联一检流计G， R p为调节桥路电流的滑线电阻 器，当C、D两点同电位时，通 过检流计G的电流为零. RN、R1 、R2 的电阻均已知， 被测电阻Rx的计算： 测量电阻范围通常在在10?106?。 惠斯顿单电桥测量原理图 测量中Rx实际并非真正的被测电阻，测出的电阻包括A 、B两点的导线电阻和接触电阻。当测量低电阻时，由于结构和接触电阻无法消除，灵敏度不高、测量数值偏差较大，只有当被测电阻相对于导线电阻和接触电阻相当大时，Rx才接近于 。因此惠斯顿单电桥的测量很少用于测量金属电阻，其测量电阻范围通常在在10?106?。 2 .双电桥法 双电桥法是目前测量金属室温电阻应用最广的方法，用于测量低电阻（102?10-6?）。 双电桥法测量时，待测电阻 Rx和标准电阻RN 相互串连 后，串入一有恒电流的回路 中。将可调电阻R1R2R3R4组 成电桥四臂，并与Rx、RN并 连；在其间B、D点连接检流计G，那么测量电阻Rx归结为调节R1R2R3R4电阻使电桥达到平衡，则检流计为零G=0 VD=VB 为了使上式简化，在设计电桥时，使R1 =R3，R2=R4，并将它们的阻值设计的比较大，而导线的电阻足够小（选用短粗的导线），这样使 趋向于零， 则附加项趋近于零，上式近似为： = 当检流计为零时，从电桥上读出R1 、R2而RN 为已知的标准电阻，用上式可求出Rx值。 用双电桥测量电阻可测量100?10-6?的电阻，测量精度为0.2%。 在测量中应注意：连接Rx、RN的铜导线尽量粗而短，测量尽可能快。 3．电位差计法 电位差计法广泛应用于金属合金的电阻测量，可测量试样的高温和低温电阻，还可以测试电位差、电流和电阻，它的精度比双电桥法精度高。可以测量10-7的微小电势。 当一恒定电流通过试样和标准电阻时，测定试样和标准电阻两端的电压降Vx和VN，RN已知，通过下式计算出Rx 电位差计法优点：导线（引线）电阻不影响电位差计的电势Vx、VN，的测量，而双电桥法由于引线较长和接触电阻很难消除，所以在测金属电阻随温度变化，不够精确。 4． 直流四探针法 直流四探针法主要用于半导体材料或超导体等的低电阻率的测量。常用于半导体单晶硅掺杂的电阻率测量。 四根金属探针彼此相距1mm排在一 条直线上，要求四根探针与样品表 面接触良好。由1、4探针通入小电 流，当电流通过时，样品各点将有 电位差，同时用高阻静电计、电子 毫伏计测出2、3探针间的电位差V23，四探针法的测量线路原理图 计算出样品的电阻率 C是与被测样品的几何尺寸及探针间距有关的测量的系数，称为探针系数。单位：（cm）；I是探针通入的电流。 一、目的要求 1、掌握材料导电性能（电阻率、电导率）的 测量方法； 2、了解电阻率和电导率的相互关系； 3、了解高分子、陶瓷材料的体电阻、表面电阻； 4、理解成分对金属材料导电性能影响。 二、基本原理 欧姆定律 电阻率与材料本质有关 电阻率的单位：??m ， ??cm ， ???cm， 工程技术上常用??mm2/m。它们之间的换算关系为 1 ???cm = 10-8 ??m = 10-6 ??cm = 10-2 ??mm2/m 电阻率与电导率关系 ?的单位为西门子每米（S/m）。 工程中也常用相对电导率（IACS%），它表示导体材料的导