33半导体光电检测器件概述.pptVIP

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  • 2016-07-20 发布于湖北
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33半导体光电检测器件概述

第三节 半导体光电检测器件 ;一、光敏电阻;当光照射到光电导体上时,若光电导体为本征半导体材料,为实现能级的跃迁,入射光的能量必须大于光导体材料的禁带宽度Eg,即 hν≥Eg (eV) 式中ν和λ—入射光的频率和波长。 从而使光电导体电导率增加 ;半导体吸收光子而产生的光电效应,只限于光照的表面薄层,虽然产生的载流子也有少数扩散到内部,但扩散深度有限因此光电导体一般都做成薄层—— 电极一般采用疏状图案。 由于在间距很近的电极之间有可能采用大的灵敏面积,所以提高了光敏电阻的灵敏度。 ; ;1--光导层; 4--电极; 7--电阻引线。 2--玻璃窗口; 5--陶瓷基座; 3--金属外壳; 6--黑色绝缘玻璃; ;光敏电阻的灵敏度易受湿度的影响,因此要将导光电导体严密封装在玻璃壳体中。如果把光敏电阻连接到外电路中,在外加电压的作用下,用光照射就能改变电路中电流的大小,其连线电路如下图所示。 优点:光敏电阻具有很高的灵敏度,很好的光谱特性,光谱响应可从紫外区到红外区范围内。而且体积小、重量轻、性能稳定、价格便宜,因此应用比较广泛。 ;(二)光敏电阻的主要 参数和基本特性 (1)暗电阻、亮电 阻、光电流 暗电流Id :光敏电 阻在室温条件下, 全暗(无光照射)后 经过一定时间测量 的电阻值,称为暗电 阻。此时流过的电流为Id

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