锥光镜下的晶体光学性质概念.pptVIP

第13章 锥光镜下的晶体光学性质;§1 锥光镜的装置及光学特点;非均质体矿物的光学性质因方向而异，垂直不同方向的入射光的光率体切面不同，其长短半径在薄片平面上的方位不完全相同，它们与上、下偏光镜振动面方向AA、PP之间的关系不完全相同。 许多不同方向入射光波同时通过矿片后，到达上偏光镜所发生的消光与干涉效应也各不相同。因此，锥光镜下观察到的，应当是各个不同方向入射光通过矿片后所产生的消光与干涉效应的总合。它们构成特殊的图形，称为干涉图。;用高倍物镜的目的在于能接纳较大范围的倾斜入射光波（图73）。 低倍物镜的数值孔径小，工作距离长，通常只能接纳与薄片法线成5°夹角以内的光波，与平行薄片法线的入射光波较接近（基本上相当于平行光波），干涉图不完整而且不清楚。 高倍物镜的数值孔径较大，工作距离短，通常能接纳与薄片法线成60°夹角以内的倾斜入射光，其干涉图较完整而且较清晰。;观察干涉图时，为什么必须去掉目镜或推入勃氏镜？ 因为锥光镜下所观察的干涉图，不是矿片本身的形象，而是锥形偏光中各个不同方向偏光同时通过矿片后，到达上偏光镜所产生的消光与干涉效应总和。即观察的是干涉图（光源象）。 干涉图的成像位置不在薄片平面上，而是在物镜的后焦平面上（图74）。去掉目镜，能直接观察到镜筒内物镜后焦平面上的干涉图实象，其图形虽小却很清晰。不去掉目镜，则必须推入勃氏镜才能看到干涉图。;此外，锥光