CCD摄像机中光电信号的二值化原理概论.pptVIP

目前CCD已在军用和天体高科技、航空航天、卫星侦察、遥感遥测、光学图像处理等领域得到了广泛地应用，尤其是在物体几何尺寸的非接触检测方面(无接触、准确度高、便于计算机处理，易于和自动控制设备连接等优势，更引起人们的高度重视,形成了CCD研究开发及应用的热潮) 。;自CCD问世以来，一直为美、日、英、法、德、荷兰等工业发达国家所瞩目，其中:美、日两国的研制与生产能力居于世界领先地位。 国外主要的CCD研制与生产单位有日本的电气、东芝、索尼、夏普、日立，美国德州仪器，荷兰飞利浦等。二十年来，CCD向着高集成度、高灵敏度、高速度、高分辨率、宽光谱响应的方向迅速发展，不断完善。 目前，国外已经研制出了像素数目为9Kx9K的CCD芯片，像素尺寸最小已经达到2.4umx2.4|um像素数目为4Kx4K的CCD芯片已达到商品化水平。 另外，CCD芯片的拼接技术也日益成熟。;国外:日本生产的LS-7000系列高速、高精度CCD测量仪器，如： LS-7030M(配备测量摄影机)测量范围：0.3mm～30mm，测量精度：±2μm 。 LS一7010M(配备测量摄影机)测量范围：0.04mm～6mm，测量精度：±0.5μm 。;;线阵CCD;对CCD的输出信号进行处理时，较多地采用了取样技术，以去除浮置电平、复位高脉冲及抑制噪声。;基于线阵CCD测径系统原理;;CCD的信号检测电路实现电荷一电压的转化，这样在CCD输出端可获得表示被测工件的视频信号。视频信号中每一个离散电压信号的大小对应着该光敏元所接收光强的强弱，而信号输出的时序则对应CCD光敏元位置的顺序。最终，被测物体的影像大小反映在CCD输出信号中变为输出信号电压的高低，即在CCD中被影像遮挡部分的光敏元输出电压低，两侧未被遮挡的光敏元输出电压高。;CCD的输出视频信号中既包含被测尺寸的信息，又含有大量的复位噪声和电子系统的白噪声，使得有用信号难以提取。 由于CCD本身的感光单元有一定间距，加上照明光源在视场内光强分布的不均匀性，CCD本身的光敏不均匀性、转移损失以及光源在通过待测目标边缘时的衍射现象等原因，使得CCD输出不会是理想的0／1信号，其包络的边缘带有明显的梯度，或者说，目标尺寸的两个边缘在CCD上成像的具体位置不能确定。 导致CCD输出信号波形在轮廓边缘处有一渐缓的过渡区，而且这一过渡区随着轮廓在视场中位置的变化而变化，这一变化直接影响捕捉真正代表物体边缘的特征点，进而影响测量精度。 因此，除了减少外界干扰外，如何从CCD的输出信号中提取出真正代表物体边缘的特征信息，是测量的难点所在。;CCD对物体的取样是通过光学系统实现的，CCD像敏元上所成像的稳定性与准确性对系统精度影响很大．对光学系统总的要求是：成像几何畸变小，像面照度分布均匀、杂散光少。光学系统包括：照明系统、成像系统和成像物镜的选择。;CCD输出的信号为视频信号，光学系统把被测工件成像在CCD光敏元上。由于被 测工件与背景在光强上的交化反映在CCD视频信号中所对应的图像尺寸在分界处会有明显的电平变化，通过二值化处理电路把CCD视频信号中的图像尺寸部分与背景部分分离成二值电平。实现CCD视频信号二值化的方法很多，一般采用硬件电路实现。无论采用哪种信号处理方式，都是为了从CCD的输出信号中提取真正表示被测工件边界的特征点，这是保证测量精度的关键，常采用浮动阈值法和微分法。;线阵CCD尺寸测量的应用方法总结：;(3)较大尺寸测量：bL2b 当被测尺寸大于CCD感光面尺寸时，有两种方法：一是缩小成像测量法，二是采 用CCD拼接技术测量法。缩小成像测量法与一般尺寸测量相同，这时在CCD与被测工件之间放置一面透镜，实现被测尺寸缩小成像在CCD光敏面上，达到测量目的。L=Ns(cosθ)／ 式中， 为透镜的放大倍数。 CCD拼接技术测量法是采用市场上的线阵CCD在显微镜下将其首尾拼在一起，实 现机械拼接，这种方法工艺简单，易于实现。然后将拼接后的CCD视为一片CCD进行测量。;CCD技术的应用中的一些问题：