EDA技术和工具第八讲概论.ppt

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2016-07-22 发布于湖北
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EDA技术和工具第八讲概论

EDA 技术和工具 Electronic Design Automation: Techniques and Tools 测试设计（DFT - Design For Testability）熊晓明 xmxiong@gdut.edu.cn 2013年;contents;测试设计（DFT）感谢： Prof. Prof. Kurt Keutzerand Mukul Prasad of UC, Berkeley Prof. K-T Cheng of UC, Berkeley Prof. Srinivas Devadas of MIT;参考书;Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits José Luis Huertas Springer, 2004年10月18日 - 298 页;参考书;可测性设计引言;测试介绍;可测性设计简介;测试(1-3);测试(2-3);测试(3-3);可测性设计的重要概念;可测性设计举例;可测性设计的重要概念;DFT(Design For Test);可测性设计的重要概念;DFT常用方法比较;BIST;RAMBIST;故障模型;单一固定故障;等价故障(1/3);等价故障(2/3);等价故障(3/3);故障压缩;不可测故障;可测性设计的重要概念;ATPG;可测性设计的重要概念;边界扫描技术;扫描测试(1/2);扫描测试(2/2);设计流程;Test-Ready Compilation;Test DRC;Preview Scan Architecture;Scan Insertion;Report;Export to TetraMAX;设计流程;Read the Netlist;Read Library Models;Build the Model;Performing DRC;Preparing for ATPG;Run ATPG;Review Test Coverage;Compress Test Patterns;Save Test Pattern;边界扫描技术;边界扫描技术;边界扫描技术;JTAG;JTAG;JTAG;JTAG;JTAG;边界扫描技术;边界扫描技术;边界扫描技术;边界扫描技术;边界扫描技术;边界扫描技术;边界扫描技术;边界扫描技术;边界扫描技术;边界扫描技术