1.目的确保仪器设备的正确使用及测试结果的准确性,防止.docVIP

1.目的：确保仪器设备的正确使用及测试结果的准确性，防止仪器设备的误操作。 2.适用范围：适用于公司内所使用各类分立半导体电参数测量。 3.仪器主要功能：用于测量晶体二、三极管击穿电压、正向压降、漏电流、放大倍数等电性参数。 111 2 311 511 411 611 711 811 911 10 11 12 13 4.面板说明: “OUTPUTS”开关：测试时，需将开关上拔向“ENABLED”。测量完毕，将“OUTPUT”开关下拔置于“DISABLED”。 电源开关。 测试夹具的插孔。 选择测试夹具的位置按键:如测试夹具插在左边，则按左边的按键，使之指示灯亮。 电压或电流大小的微调旋钮。 “CURSOR”指针按键，测试时置于“DOT”. 输出为曲线或点的选择键，一般置于“LONG”或“SHORT”，防止晶体管过热，引起测试损坏。除非需要确认曲线状况，则置于“OFFSET”。（短时间确认）。 最大电压和功率量程选择键：为防止对零件的破坏，需视具体功率大小设置最大量程。 输入波形选择键：视测试参数选择。 波形上的测试点选择位置：若测试输出曲线时，需将曲线上的“亮点”移到曲线的最上端，以确保测试参数的正确性。 “HORIZONTAL”“VERTICAL”的刻度值旋钮。 输入“电压”或“电流”选择按钮：测试二、三极管等电流控制元件，选择为“电流”，测试MOSFET压控元件，选择为“电压”。 “STEP GENERATOR ” 产生合适的STEP输出特性图. 5.具体操作步骤说明： 5.1开机 5.1.1 检查“OUTPUTS”开关，使之置于“ENABLED”位置。 5.1.2 打开电源开关，经10秒钟自检后，370A处于初始化状态。 5.1.3 为了后续测量的方便，按“SAVE”键，供后续测量状态参考。 5.1.4 选择夹具，依据SPEC. 正确安装待测器件，并正确选择测量功率、电压及测量波形。 5.1.5 依据夹具插的位置，选择“LEFT、STANDBY、RIGHT”于LEFT或RIGHT位置。 5.1.6 置“CURSOR”于“DOT”。 5.1.7 依所测晶体管按照下面的2、3、4点进行设置。 5.1.8 按照晶体管的具体SPEC.设置“HORIZONTAL”“VERTICAL”的刻度值。 5.1.9 将测量体置于测试夹具中，开始测量。 5.1.10 若为了测量方便可按“SAVE”键储存入E区，若须再测时可按“RECALL”键. 5.1.11 测量完毕，将“OUTPUT”置于“DISABLED”。 5.2 二极管参数的测量 5.2.1 VF(正向电压)的测量 设置： CONFIGURATION： COLLECTOR=COLLECTOR SUPPLY BASE=OPEN(EXT) EMITTER=COMMON COLLECTOR SUPPLY POLARITY：+ HORIZONTAL：COLLECTOR VERTICAL：COLLECTOR 将“OUTPUTS”开关置于“ENABLED”，慢慢旋动“COLLECTOR SUPPLY” 使 COLLECTOR值慢慢增大，当正向电流IF满足SPEC要求时，HORIZONTAL CURSOR 即指示正向电压VF。 注：当感觉到测量体在发热时，应使用“PULSE”中“LONG”或“SHORT”。 5.2.2 反向电流IR 设置： CONFIGURATION： COLLECTOR=COLLECTOR SUPPLY BASE=OPEN(EXT) EMITTER=COMMON COLLECTOR SUPPLY POLARITY：-LEAKAGE(功率二极体选-DC) HORIZONTAL：COLLECTOR VERTICAL：COLLECTOR 将“OUTPUTS”开关置于“ENABLED”，慢慢增大“COLLECTOR SUPPLY” 当所加的反向电压VR满足SPEC要求时，VERTICAL CURSOR即指示反向电流IR 5.2.3 ZENER二极体的ZENER电压VZT 设置： CONFIGURATION： COLLECTOR=COLLECTOR SUPPLY