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光的干涉(姜)
* * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * 则 光源线度b越小,干涉孔径角ω越大,光源的 空间相干性越好。 例;薄膜干涉 ω ω 0 b ∞ 可用面光源 一 光程与光程差 1.光程 ① 定义:光程 波程×折射率 意义;光在 介质中走 r 的距离相当在 真空中走 nr 的距离。 相当 位相; 时间; ②位相差 ×光程差 fuxi ③加强与削弱的条件 相干相长 相干相消 K 0,1,2,3 … 2.物像之间的等光程性 例; s S’ a b c d e s S’ a b c 二 双缝干涉(分波面) 明纹: 暗纹: 光程差: 条纹间隔: 条纹特点: 1.一系列等间隔平行明暗相间 的条纹. 2. P 25-31 三 薄膜干涉 1. 光程差 当 或 时没有 半波损 2 应用; 1 增透膜 2 增反膜 P43-46 3.劈尖干涉 相邻两条纹高度差: 条纹间隔: 光程差: 亮纹: 暗纹: P61-62 劈尖最大厚度: 条纹间隔数×λn/2 4. 牛顿环 光程差: 亮纹: 暗纹: 相邻两条纹高度差: 半径与膜厚的关系: * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * 亮纹: K 1, 2, 3…. 暗纹: K 0.1.2…. 讨论; 劈尖处为0级暗条纹证明了半波损 的存在。 (2)条纹位置 (3)条纹间隔 α 相邻两暗(亮) 条纹高度差: 设条纹间隔(宽度)为△x,劈尖夹角 为α。则: 0 1 2 3 4 5 k 3 △x 与劈尖夹角α成反比。 5 应用;测平整度,测膜厚 讨论: 1 △x 与级数 k 无关 — 等间隔。 ; 2 △x 与λ成正比—入射复色光 时为彩色条纹。 4 相隔一个条纹间隔两点薄膜高度 差为半个波长 介质中 . 劈尖的应用: 测波长:已知θ、n,测 L 可得? 测折射率:已知θ、 ? ,测 L可得 n 测细小直径、 测表面不平度 等厚条纹 待测工件 平晶 待测样品 石英环 ? 平晶 干涉膨胀仪 依据公式 厚度、 微小变化: 例1 上玻璃板绕劈尖转动 α角变大,条纹变密,零级暗纹不动 例1 例2. 上玻璃板向上平动 条纹向劈尖方向平移 条纹间隔不变 薄膜厚度每增大半个波长,条纹向劈 尖方向平移一条 一个条纹间隔 . 例2 k-1 k k+1 工件 工件 例3 试根据干涉条纹弯曲形状判断工件表 面是凹还是凸,并用图中所标尺寸计 算纹路尺寸。 例3 解; A B C D E F G I ∵ AB CD ∴ EB CF H AF a,CI b ∵△AFC~△CIG ∴ 3.0mm 2.1mm Li Li SiO2 Si 920 nm Li 2. 牛顿环 1 光程差 2 条纹位置 明纹; 暗纹; K 1,2,…. K 0,1,2….. n Ⅱ 牛顿环 牛顿环照片 R 明环; 暗环; (3)条纹半径 4 条纹间隔 条纹级数 k 越高,条纹间隔越小 分别测量第k+m级和第k级暗环半径 则有 平晶 和 应用; 1 测球面半径 球面质检 在牛顿环实验中 589 nm 4.00 mm 6.00 mm 暗环 6.79 m Li Li Li 17-5 迈克尔迅干涉仪 时间相干性 17-5 迈克尔迅 干涉仪 续上 M2’ 等倾吐级 等倾吞级 等厚移级 二 时间相干性 问题;光程差太大为什麽无干涉现象。 关键;最大光程差应小于 波列长度. 二 时间相干性 相干长度——波列长度 相干时间—— --时间相干性好 证明; 从单色性考虑;最短波长为 最长波长为 I x 5 0 1 2 3 4 6 ? - ??/2 3 ? + ??/2 0 1 2 5 4 合成光强 *三 空间相干性 双缝干涉,单缝宽度b越大,条纹越不清晰。 b 分析;单缝可看作很多线光源,屏上为所有线 光源干涉条纹的不相干迭加。 *三 空间相干性 (2)当单缝上边缘产生的零级亮条纹下移半个 条纹间距时,即在原零级亮纹处为其一级暗纹 时,整个条纹将相互重叠而完全模糊。 B A l φ 只有当 b ≤ 时才能看到干涉条纹 令 干涉孔径角 (b,d l) Li 例 Li Or *Li *Li 例3 LI 例3 Li Li (第2次课;讲习题) 例: 在双缝干涉实验中,用一透明薄膜 盖住一缝,透明薄膜厚度为e,折射 率为n,求:1.光程差的改变。 2.干涉条纹的变化。 例 x 光程差: D O 亮纹: 暗纹: 2.若P点原为 k 级亮纹: 若: 则: 总结:1.条纹向
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