第八章扫描探针显微分析技术-闫慧资料.ppt

第八章 扫描探针显微分析技术 ;一. 绪论 二. 扫描隧道显微镜（STM） 三. 原子力显微技术（AFM） 四. 磁力显微技术;一. 绪论; 第一代为光学显微镜;第二代为电子显微镜 ;第三代为扫描探针显微镜-STM;Four-probe SPM system;第三代为扫描探针显微镜-AFM;三种观察原子的方法比较 ;2.1 扫描隧道显微镜（STM）的特点 2.2 STM的基本原理 2.3 STM两种扫描模式 2.4 STM的优势、局限性与发展 ;STM使人类第一次能够实时地观察单个原子在物质表面的排列状态和与表面电子行为有关的物化性质。 在表面科学、材料科学、生命科学等领域的研究中有着重大的意义和广泛的应用前景， 被国际科学界公认为20世纪80年代世界十大科技成就之一。;STM具有如下独特的优点： 1. 具有原子级高分辨率，STM 在平行于和垂直于样品表面方向上的分辨率分别可达 0.1nm 和 0.01 nm，即可以分辨出单个原子． ;2．可实时得到实空间中样品表面的三维图像，可用于具有周期性或不具备周期性的表面结构的研究，这种可实时观察的性能可用于表面扩散等动态过程的研究． 3．可以观察单个原子层的局部表面结构，而不是对体相或整个表面的平均性质，因而可直接观察到表面缺陷。表面重构、表面吸附体的形态和位置，以及由