6.集成电路封装与测试.doc

6.集成电路封装与测试

一、芯片互联技术 载带自动焊的分类及结构特点? 答:TAB按其结构和形状可分为 Cu箔单层带:Cu的厚度为35-70um, Cu-PI双层带 Cu-粘接剂-PI三层带 Cu-PI-Cu双金属 载带自动焊的关键技术有哪些? 答:TAB的关键技术主要包括三个部分: 一是芯片凸点的制作技术; 二是TAB载带的制作技术; 三是载带引线与芯片凸点的内引线焊接和载带外引线的焊接术。制作芯片凸点除作为TAB内引线焊接外,还可以单独进行倒装焊(FCB) 比较各种芯片互联方法的优缺点? 答:(1):引线键合(WB)特点:焊接灵活方便,焊点强度高,通常可以满足70nm以上芯片的焊区尺寸和节距的需要。 (2):载带自动焊(TAB):综合性能比WB高,TAB技术可以作为裸芯片的载体对IC芯片进行老化、筛选、测试,使组装的超大规模集成电路芯片被确认是好的芯片。这就可以大大提高电子产品特别是MCM的组装成品率从而大幅度降低电子产品的成本。 (3):倒装焊(FCB):芯片面朝下,将芯片焊区与基板焊区直接相连。在裸芯片上的电极上形成焊料凸点,通过钎焊将芯片以电极面朝下的倒装方式安装在多层布线板上,由于不需要从芯片向四周引出I/O端 子,可布置更多的端子,互联线的长度大大缩短,减小了RC延迟,可靠性提高上的电极上形成焊料凸点,通过钎焊将倒状方式实装在多层布线板上,由于不需要从芯片向四周引出I/O端子,可

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档