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北京科技大学 计算机与通信工程学院
实 验 报 告
实验名称: 存储器、加法器以及乘法器
学生姓名:
专 业:
班 级:
学 号:
指导教师:
实验成绩:
实验地点:
实验时间: 年 月 日
一、实验目的与实验要求
1、实验目的
(1)实验一:静态随机存储器实验
= 1 \* GB3 ①掌握静态随机存储器的基本结构。
= 2 \* GB3 ②掌握静态随机存储器 RAM工作特性及数据的读写方法。
(2)实验二:超前进位加法器设计实验
= 1 \* GB3 ①掌握超前进位加法器的原理及其设计方法。
②熟悉 FPGA 应用设计及 QuartusII 软件的使用。
= 3 \* GB3 ③理解使用超前进位逻辑设计ALU的方法。
(3)实验三:阵列乘法器设计实验
= 1 \* GB3 ①掌握乘法器的原理及其设计方法。
②熟悉QuartusII 软件的使用及FPGA应用设计。
2、实验要求
(1)了解静态随机存储器的工作原理,利用实验箱进行验证性实验,并完成实验箱的写入、读取数据。
(2) 利用QuartusII 软件完成超前进位加法器设计,原理图设计或者程序编程实现其进位加法功能,并且下载到实验箱里完成验证。
(3)用文字描述或者画图方式给出FPGA外围电路接线图,并在QuartusII 软件中完成阵列乘法器的设计,运行观测结果。
二、实验设备(环境)及要求
CM3+实验环境、QuartusⅡ8.0环境
三、实验内容与步骤
1、实验1
(1)实验原理
本实验所用的静态随机存储器(SRAM)由一片 6116 芯片(2K×8bit)构成(位于 MEM单元),如图所示。6116 的容量为 2KB,包含 11 根地址线,即 A10~A0,数据宽度为 8位,除电源和地线外,还有三根控制线:CS (片选线)、OE (读线)、WE (写线),其功能如表 3.5 所示,在片选信号有效(CS=0,低电平有效)的前提下,当OE=0 时进行读操作,当WE =0 时进行写操作,本实验平台将CS常接地。
存储器(MEM)最终是要挂接到 CPU 上,所以还需要一个读写控制逻辑,使得 CPU能控制 MEM 的读写,实验中的读写控制逻辑如图所示,图中读信号 RD 和写信号 WR都是高电平有效。由于 T2 的参与,可以保证 MEM 的写脉宽与 T2 一致,T2 由时序单元的TS2 给出。IOM 主要用来选择是对 I/O 设备还是对 MEM 进行读写操作。当 IOM=1 时读写 I/O设备,当 IOM=0 是读写 MEM。当 RD=1 时为读,当 WR=1 时为写。
存储器实验原理图:
(2)主要步骤
关闭实验系统电源,在断电状态下按图所示连接实验电路,并检查无误。时序单元的状态开关置为“单步”档,MEM 单元的编程开关置为“运行”档。 将 CON 单元的 IOR 开关置为 1(使 IN 单元无输出),打开电源开关,如果听到有“嘀”报警声,说明有总线竞争现象,应立即关闭电源,重新检查接线,直到错误排除。
将写地址操作步骤为:
(1)令 WR=0,RD=0,IOM=0,IOR=0,在 IN 单元置一个地址值(关掉存储器的读写,数据开关输出地址);
(2)保持上述不变,令 LDAR=1(打开地址寄存器门控信号),然后按动 TS 产生 T2 脉冲,即将地址打入到 AR 中。
写数据操作步骤为:
(1)令 WR=0,RD=0,IOM=0,IOR=0,LDAR=0,在 IN 单元置一个数据值(关掉存储器
的读写和地址寄存器门控信号;
(2)然后置 WR=1,使存储器处于写状态,按动 TS 产生 T2 脉冲,即将数据打入到存储器中。
写地址步骤与前面一样。
读数据的具体步骤如下:
(1)令 IOR=1,WR=0,RD=0,IOM=0,LDAR=0,关闭 IN 单元的输出;
(2)然后置 RD=1,使存储器处于读状态,此时数据总线上的数即为从存储器当前地址中
读出的数据内容。
进行上面的手动操作,每按动一次 TS 按钮,数据通路图会有数据的流动,反映当前存
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