GC常见峰型问题解决常识.docVIP

PAGE  PAGE 3 A所有组分峰变小 可能原因 建议措施 1进样针缺陷 使用新针或无缺陷的针 2进样后漏夜 判断漏夜点，维修之 3 MAKE UP过大：分流比过大 调整气体流速和分流比 4 分析物质分子量过大，底挥发样品时 提高INJ。OVEN（主要柱子的最高使 样品的汽化温度过低，或柱温度低 用温度） 5 NPD被污染物（二氧化硅）覆盖 更换铷珠 6 NPD温度过高（使用或环境温度），气体不纯 更换铷珠：避免高温使用 7不分流进样，分流阀关闭快：初始OVEN温高 8 检测器与样品不匹配 9样品的挥发 调整样品的的浓度或选择合适的溶剂 B峰伸舌 峰伸舌多右色谱柱过载 减小进样量(可能需提高仪器的sensitivty 使用大容量柱子：提高OVEN，INJ温度： 增大气体流速 C峰高峰面积不重复 1进样不重复，偏差大 自动进样器：加强手动进样的练习 2其他峰型变化引起的峰错位，干扰 3基线的干扰 仪器系统参数设定的改变 参数标准化，规范化 D负 峰 1 Detector有数据处理系统信号极性接反 信号连接倒置 2 TCD中，样品导热系数大于载气导热系数 选择数据处理中的“负峰处理” 3 ECD被污染，可能在正峰后跟随负峰 清洗ECD，更换之（若有必要） E样品的检测灵敏度下降 1色谱柱，衬管被污染，使活性物质灵敏度小将 清洗衬管：用溶剂（优级纯甲醇）清洗色谱柱