《数字电子技术实验》讲义教程方案.docVIP

PAGE  PAGE 17 实验一 门电路逻辑功能测试及简单设计 一、实验目的 1．熟悉数字万用表、示波器和数字电路基础实验箱的使用； 2．掌握TTL和CMOS与门主要参数的测试方法； 3．了解门电路的电压传输特性的测试方法； 4．掌握74LS00与非门、74LS02或非门、74LS86异或门、74LS125三态门和CC4011门电路的逻辑功能； 5．掌握三态门的逻辑功能。 6．掌握利用门电路设计数字电路的方法。 二、预习要求 1．了解TTL和CMOS与非门主要参数的定义和意义。 2．熟悉各测试电路，了解测试原理及测试方法。 3．熟悉74LS00、74LS02、74LS86、74LS125和CC4011的外引线排列。 4．画实验电路和实验数据表格。 三、实验原理与参考电路 1、TTL与非门的主要参数 TTL与非门具有较高的工作速度、较强的抗干扰能力、较大的输出幅度和负载能力等优点烟而得到了广泛的应用。 （1）输出高电平：输出高电平是指与非门有一个以上输入端接地或接低电平时的输出电平值。空载时，必须大于标准高电平（），接有拉电流负载时，将下降。测试的电路如图1.1所示。 （2）输出低电平： 输出低电平是指与非门的所有输入端都接高电平时的输出电平值。空载时，必须低于标准电平（），接有灌电流负载时，将上升。测试的电路如图1.2所示。 图1.1 VOH的测试电路 图