X射线在物相定量、点阵常数的精确测定及晶粒尺寸的精确中的应用解析.pptVIP

X射线在物相定量分析、点阵常数的精确测定及晶粒尺寸的精确分析中的应用;一、X射线物相定量分析;1、物相定量分析原理;设多相物质含有N个相，第j相参加衍射的体积为Vj ，当使用衍射仪测量时，第j相某一 (hkl) 线的衍射强度： ;多相物质线吸收系数μ 与质量吸收系数 μm的关系为 ;当待测相含量用体积分数表示时 ;多相材料中某相的含量越多，则它的衍射强度就越高。但由于衍射强度还受其他因素的影响，再利用衍射强度计算物相含量时必须进行适当修正。 X射线定量物相分析，又称定量相分析或定量分析，其常用方法有直接对比法、内标法及外标法等。;直接对比法，也称强度因子计算法。假定试样中共包含n种类型的相，每相各选一根不相重叠的衍射线，以某项的衍射线作为参考（假设为第1相），则根据;2.2、内标法;若两相物质j和s一定，所用X射线波长λ一定，因每个待测试样中加入的内标物质的重量百分数ws都保持恒定，则 K为常数，而上式为线性函数。表明混合试样中j相与s相某一较强衍射线条积分强度比值与j相在原待测试样中的重量分数ws成正比。 ;（2）K值内标法 参考物质c和纯物质j按质量1:1混合，即wj=wc=0.5，则 Ij/Ic=(Cj/Cc)(ρc/ρj)=Kj Kj称为j的参比强度或K值。K值只与物质参数有关，而不受各组含量的影响。PDF卡中j相条目最后一项I/Is 即是K值。使用时应注意它是j相最强线与α－Al2O3 最强线 (113) 积分强度比。 被测j相为结晶材料，其他相含非结晶材料： wj=[(ws/(1-ws)](Ks/Kj)(Ij/Is) 试样中各项均为晶体材料： wj=（Ij/Kj）/∑j=1（Ij/Kj）;2.3、外标法;（2）各相吸收效应相差较大时;;3、实际分析的难点及注意事项;;二、点阵常数的精确测定;原胞的重复排列，可以形成整个点阵。原胞的三个棱，可以选作描写点阵的基本矢量，用a、b、c来表示。选择任一阵点做原点，点阵中任何一个阵点的矢径都可以用方r=ma+nb+pc来表示，式中的m、n、p都是整数。由a、b、c的大小和方向决定整个点阵，所以叫做点阵常数。 ;例1;例2 钢中马氏体含碳量的测定;点阵常数是晶体物质的重要参数，晶体材料中原子键合力、密度、固溶体类型、固溶度及宏观应力、固态相变、热膨胀系数等，都与点阵常数的变化密切相关。通过点阵常数的变化可揭示这些问题的本质和变化规律。 这类变化通常仅在10-5nm数量级下，通常的测量条件下，这种微小的变化被实验误差所掩盖。因此，必须对点阵常数进行精确测定 。 ;2、点阵常数的测定;影响sinθ精度的关键因素;根据布拉格方程式同样可以证明： ? ＝ 2d sin ? 微分 ?? ＝ 2?d sin ? ＋ 2d cos? ?? 不考虑波长误差，则 0= ?d/d +ctg? ?? ?d/d ＝ －ctg? ?? 当??90，ctg??0， 若??恒定，则?越大，d的误差越小；当θ趋近于90?时，误差将会趋近于0。 因此，应选择角度尽可能高的线条进行测量。;;3、X射线衍射方法;4、系统误差来源;相机半径误差及底片伸缩误差;当θ接近90度时，相机半径误差及底片伸缩误差导致的点阵常数的误差趋于零。 实验中常采用不对称装片法，可以有效地消除上述误差。;试样偏心误差与试样吸收误差;试样水平位移使衍射线位置相对变化为： 因此试样偏心误差为：;以上因素引起的总误差为：;5、误差校正方法;5.1精密实验技术方法;5.2数学处理方法;图解外推法;外推函数的选用;最小二乘法;最小二乘法;标准样校正法;任意一个衍射峰，由5个要素组成： 峰位：面网间距的反映（Bragg定理）； 最大衍射强度：自身衍射强度及含量的函数； 半高宽及形态：晶体大小与应变的函数； 对称性：光源、试样吸收性、仪器机械装置及其它物相存在的函数。 因此，只有半高宽和形态可反映结晶度的好坏。; 一般情况下，晶体的颗粒越大（即每个颗粒所含的晶胞数目越多，则衍射效果越好。具体体现在衍射峰越敏锐。 衍射峰的敏锐程度用半高宽来衡量。 ;原理： 通过实践证明，大于200nm的晶体颗粒，产生的X射线衍射从半高宽来衡量，都可为标准衍射，即衍射线的半高宽为一固定值。 而当粒度小于200nm的时候，衍射线会发生宽化（相干散射的不完全所致）。并且粒度越小，半高宽越大，直到粒度小的类似于非晶体的时候，衍射峰变成平台状。;方法： 在进行衍射分析时，加入30％－50％的标准物质（α石英、硅、α刚玉等）。 标准物质：粒度大于200nm，结构稳定。 测定