KLch(ADDA和CMP模块)重点.ppt

*;*;1.采样精度 采样精度就是指数字量变化一个最小量时模拟信号的变化量，即我们通常所说的采样位数。 2.采样速率 采样速率是指完成一次A/D采样所要花费的时间。在多数的MCU中要花费大于15～20个指令周期。因而此速率和所选器件的工作频率有很大关系。 3．滤波 为了使采样的数据更准确，必须对采样的数据进行筛选去掉误差较大的毛刺。通常我们采用中值滤波和均值滤波来提高采样精度。 4．物理量回归 在实际应用中，得到稳定的A/D采样值以后，还需要把A/D采样值与实际物理量对应起来，这一步称为物理量回归。;10.1.2 A/D转换器类型 1．积分型A/D转换器 积分式A/D转换器先以一个固定长的时间对一个电容器连续充电，然后以固定的放电速率使这个电容器放电，并测试放电过程所花的时间。用时钟测量放电时间，而时钟脉冲的数量即为数字输出。这种方法相对较慢，但极其精确并具有线性。这种方法常用在脉冲幅度分析器。 2．逐次逼近型A/D转换器 逐次逼近是一般MCU应用中最常用的技术，它的转换速度中等（标称20s）。逐次逼近型A/D转换器采用二分查找法逐位确定转换后输出的数据。这种方法成本低，速度快，能处理较大的数，但转换过程中，需要采样保持放大电路提供恒定的输入。;10.1.3 A/D转换常用传感器简介 1．温度传感器 温度传感器是利用一些金属、半导体等材料与温度有关的特性制成的，这些特性包括热膨胀、电阻、电容、磁性、热电势、热噪声、弹性及光学特征，根据制造材料将其分为热敏电阻传感器、半导体热电偶传感器、PN结温度传感器和集成温度传感器等类型。 热敏电阻传感器是一种比较简单的温度传感器，其最基本电气特性是随着温度的变化自身阻值也随之变化。;2．光敏电阻器 光敏电阻器是利用半导体的光电效应制成的一种电阻值随入射光的强弱而改变的电阻器；入射光强，电阻减小，入射光弱，电阻增大。光敏电阻器一般用于光的测量、光的控制和光电转换（将光的变化转换为电的变化）。;10.1.4 电阻型传感器采样电路设计 电阻型传感器即自身等效为一个电阻，电阻的阻值随外部信号的变化而变化，可用来采集温度等。 对于电阻型传感器的采集电路，基本思想是将电阻变化转化为电压变化，然后利用AD转换芯片得到电压值，最后利用AD值和外部信号的对照表得出当前外部信号的值。 实际应用中，为了获取更精确的采样值，常用的采样设计有恒流激励电路和恒压激励电路。 通常，电阻型传感器采集电路由三部分组成：传感器接口、恒流源电路和放大电路。 ;*;*;ADC通道的数量由专门的芯片封装引出脚决定，本书选用LQFP封装80引脚的MKL25Z128VLK4芯片，具有: 1)2对外部引脚差分输入模式，每路有可以分别配置为16位、13位、11位、9位种采集精度。 2)14路外部引脚单端输入模式，每路可以分别配置为16位、12位、10位和8位四种采集精度。 3)还可以其他形式的模拟输入通道，如ADC模块内包含一个温度传感器，它的输出信号接在ADC模拟量输入通道上，通道号位26。 当KL25的ADC配置为差分模式时，2对差分引脚视为差分输入源，将该引脚的电压差值模数转换的测量值，而且相应的结果寄存器会出现符号位。当差分引脚DADP的电压比DADM高时，符号位为0。当差分引脚DADP的电压比DADM低时，符号位为１。 在复位、低功耗停止模式或者是当SC1n中的ADCH各位都为高时，ADC模块是禁止的，具体的请参阅电源管理信息。 ;*;*;*;D31~D8 — 保留位，只读，且各位值为0。 D7 — COCO，转换完成标志位，只读。当不设置比较功能(SC2[ACFE]=0)时，或不设置硬件均值功能(SC3[AVGE]=0)时，每次转换完成时置该位为1；当比较功能使能(SC2[ACFE]=1)时，只要比较结果为真，转换完成后，该位为1；当设置硬件均值功能（SC3[AVGE]=1）时，且均值滤波次数（该值由SC3[AVGS]段决定）设定后，则该位为1；当校准次序完成，则该位为1。当对寄存器SC1A进行写操作或者对转换结果寄存器Rn进行读操作时，都会清除COCO。 D6 — AIEN，中断使能位。当AIEN位为1时，设置COCO位为1就会引发一个中断。当AIEN为0时，无动作。 D5 — DIFF，差分模式使能位。当DIFF为0时，单端转换；当DIFF为1时，差分转换。在差分模式下，当ADC配置有效时，该模式会自动从不同通道中选择一个通道，改变转换算法和周期数完成转换。 D4~D0 — ADCH，输入通道选择位。用于选择一个输入通道,见表10-1描述。 ;2）状态控制寄存器ADC0_SC2 状态控制寄存器ADC0_SC2具有有转换执行状态、硬件/软件触发选择、比较功能和ADC模块的参考电压选择等功能。 ;*;*;D5~D4 — 保