第一章第四节__x射线衍射方法.pptVIP

为了获得有用的衍射实验数据及衍射谱图，人们在实际工作中发展了许多衍射实验方法。对于不同的衍射方法，其测量和计算衍射数据的方法也不同。 最基本的衍射实验方法有：粉末法、劳埃法和转晶法三种。;; 依据：凡是与反射球面相交的倒易结点都满足衍射条件而产生衍射。;反射球;;劳埃法;旋转单晶法;;德拜-谢乐法;聚焦照相法;针孔法（平板照相法）;一、粉晶法成像原理与衍射花样特征;根据厄瓦尔德图解原理，反射球与倒易球相交时，满足衍射条件时，其交线为一系列垂直于入射线的圆环。 从反射球中心(O)向这些圆周环连线就组成称之为衍射圆锥，衍射圆锥所对应的2?即为衍射角。;;2、衍射花样;二、德拜法及德拜相机 1、德拜法：用单色X射线照射试样，底片卷成圆环状，试样位于中心，获得的衍射花样是一些衍射弧(对)——各(HKL)衍射圆锥与底片的交线。;2、德拜相机;1）圆桶形暗盒 2）样品轴 3）光栏 4）荧光屏;三、实验方法 1、试样的制备 1）试样形状：将粉末试样制成直径为0.3mm～0.6mm，长度为1cm的细圆柱状粉末集合体、金属丝、纤维； 2）粉末颗粒：通常要求?m数量级；(过250目～300目筛)； 3）脆性试样粉碎、韧性试样锉削或碾磨再真空退火。 ;颗粒适中： 颗粒过大，则可能由于参加衍射的晶粒数目太少而影响衍射线的强度；颗粒度过小，则可能因晶粒结构周期性的破坏而使衍射线发生弥散增宽。 真实性： 要求在试样制备过程中不该变原物相组分及原物相成分，以保证测试结果的真实性。 ;2、底片的安装（根据底片圆孔位置和开口位置的不同）;3、靶材的选择 基本要求：靶材产生的特征X射线(常用Kα射线)尽可能少地激发样品的荧光辐射，以降低衍射花样背底，使图像清晰。 X射线的吸收;当波长减小到某几个值时，?m会突然增加，于是出现若干个跳跃台阶。 原因：在这个特定波长时产生了荧光效应，使X射线被大量吸收，这个相应的波长称为吸收限?K。 利用这一原理，可以合理地选用靶材。; 靶材的选择（其实就是选择入射线波长） 1）按样品化学成分选靶 从前面分析可知：要尽量避免激发样品荧光辐射，就必须使λKα靶＜＜λ K吸收限或λKα靶稍长于λ K吸收限。 ;;2）入射线波长对衍射线条多少的影响 由布拉格方程知：d≥λ/2，λ越大，则可能衍射线条越少，故入射线波长不易太大。;为吸收Kβ射线，保证Kα的纯度，消除Kβ射线衍射的影响，滤波片的 K吸收限波长应满足： λK β靶 ＜ λK滤 ＜λK α靶， 满足此条件的滤波片原子序数选择为： Z靶＜40 时， Z片＝ Z靶－ 1 Z靶≥40 时 ， Z片＝ Z靶－ 2;7、衍射花样的测量和计算;影响及修正;四、衍射花样的指数化 指数化——是确定衍射花样中线条（弧对）所对应晶面的干涉指数。 1.立方晶系衍射晶面指数标定 将立方晶系晶面间距公式 ： 代入布拉格公式得： 设 H2+K2+L2=N 则有： Sin2θ1： sin2θ2： sin2θ3：… ＝ N1 : N2 : N3：… ;;序 号;sin2θ的连比特征反映了晶体系统消光的规律，即反映了晶体结构特征。 不同结构类型，其产生衍射各晶面的指数平方和（N）顺序比也各不相同。 在进行指数化时，只要先算出sin2θ的顺序比，然后与表进行对照，便可确定晶体的结构类型及其衍射线条的指数。 面心立方的顺序比=3：4：8：11：12：16：19：20：24：27 体心立方：1：2：3：4：5：6：7：8：9：10：11：12：13 简单立方：1：2：3：4：5：6：8：9：10：11：12：13：14 ;对未滤波的射线，由于只需标定Kα衍射线，故须识别Kα和Kβ。 识别Kα和Kβ衍射线的依据为： 五、相机的分辨本领 分辨本领：表示晶面间距变化时引起衍射线位置相对改变的灵敏度，既相邻两条衍射线分开的程度。 设相机的分辨本领为 φ，则有：;由上式可看出： 相机半径R越大，分辨本领越高； θ越大，分辨本领越高； X射线波长越长，分辨本领越高； 面间距越大，分辨本领越低；所以大晶胞试样，应选用长波长X射线。;五、聚焦法简介;§ 4.2 x射线衍射仪;X射线衍射仪成像原理（厄瓦尔德图解）与照相法相同，但记录方式及相应获得的衍射花样不同。 衍射仪采用的具有一定发散度的入射线，也因“同一圆周上的同弧圆周角相等”而聚焦，与聚焦（照相）法不同的是，其聚焦圆半径随变化而变化. X射线衍射仪法以其方便、快速、准确和可