恒温晶振温补晶振的调试及测试.docVIP

恒温晶振、温补晶振的调试及测试时的注意点恒温晶振、温补晶振的调试及测试时的注意点1 每一个单独指标必须单独测试，不能同时测试几种指标，也不能同时测试几只晶振。2 测试时要严格按照标准的测试电路和测试环境进行测试。3 在没有相当的测试设备和测试人员的情况下，不建议客户自行测试晶振，更不能随意调试晶振，测试设备的等级应至少比晶振指标高一个数量级。4 对不同厂家的产品，尤其是来自不同国家的产品，有一些指标的测试方法不尽相同，应提前了解各厂家的异同点，统一意见，以减少不必要的麻烦。5 对一些短期指标如频率精度，开机特性等，应多做几次重复的测试，以减少测试结果的偶然性。恒温晶振OCXO选型和采购时应该注意的问题1 不要一味追求高指标，因为高指标意味着成本大幅度增加，交货期加长；?2 注意封装的可替代性，尽量不选用非标准封装； 3 尽量不要压缩交货期限； 4 了解厂家情况的时候，应该着重考察厂家的晶体来源、工艺控制能力； 5 如果可能的话，应允许在研发阶段就让厂家参与到指标的确认工作中。恒温晶振、温补晶振主要技术指标定义的IEC标准1）标称频率（Nominal frequency）IEC标准定义：振荡器标明的工作频率。2）中心频率偏差 Frequency accuracy IEC标准定义：在基准点温度环境（25 ± 2 ）和中心控制电压时，测得的频率值与标称频率的偏差。3）频率调谐范围（Frequency adjustment range）IEC标准定义：用某种可变元件使振荡器频率能够改变的频率范围。注：调整的目的：1）把频率调到规定调整范围内的任一特定值。2）由于老化和其它条件变化而引起频率偏移后，能够把振荡器频率修正到规定值。调整的方式：3）调节方式有机械调节和电压调节两种4）可变元件通常指变容二极管、多圈电位器等。4）工作温度范围 Operating temp. range IEC标准定义：振荡器能够正常工作，其频率及其它输出信号性能均不超过规定的允许偏差的温度范围。注： 1）工作温度范围的下限越低，振荡器功耗越大，同时频率温度稳定度越难实现。2）工作温度范围的上限越高，晶体拐点设置越高， 晶体成本上升越多。5）压控特性（电压范围、极性、线性、压控输入阻抗）IEC标准定义：当控制电压变化时，引起的振荡器输出的频率、波形特征等电特性的变化。注： 1）电压范围：用来调节频率的电压的可调范围。常见的有0～3.3V, 0.3～3.0V, 0～ 5V, 0.5～4.5V等。 2）压控范围：压控电压在电压范围内变化的时候，振荡器的频率能够变化的范围。3）极性：当振荡器的频率随压控电压的增加而增加的时候，压控极性3）极性：当振荡器的频率随压控电压的增加而增加的时候，压控极性为正极性，反之为负极性。4）线性度：理想的压控电压和频率变化量的关系是线性的， 但实际上总会有所偏差， 这个偏差就是表征理想程度的压控线性度， 通常用百分比表示。5）如果系统不能给出稳定的电压信号， 或者对输出频率有严格的控制要求时， 通常振荡器可以自己给出经过稳压后的精准的电压供压控电压用， 这个精准的电压就是参考电压。6）输出波形（Output waveform） 正弦: 负载能力方波: 上升沿时间、下降沿时间、占空比、高/低电平IEC标准定义：振荡器工作时输出的波形及波形的具体特性。注：常见输出波形及输出特性指标：1）正弦波（Sine）：谐波抑制（Harmonic attenuation）、杂波抑制（Noise attenuation ）、负载（Load）、输出幅度（Output level）。2）削峰正弦波（Clipping Sine）：负载（Load）、输出幅度（Output level）。3）方波（Square）：又分为MOS和TTL两类输出。负载（Load）、占空比（Duty cycle）、上升/下降时间（Rise/fall time）、高低电平（“1” and “0” level）。7）工作电流、功耗 Input current, power consumption 8）频率温度稳定度 Frequency stability over temp. IEC标准定义：其它条件不变时，由于振荡器工作在规定的温度范围内引起的相对于基准温度时的频率偏移。9）负载变化频率稳定度 Frequency stability Vs voltage+/-5% IEC标准定义：其它条件不变时，由于负载阻抗在规定范围内变化引起的相对于规定的负载条件时的频率偏移。10）电源变化频率稳定度 Frequency stability Vs Load+/-10% IE