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- 2016-08-05 发布于湖北
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PIN光探测器的结构和原理图 I层很厚,吸收系数很小,入射光很容易进入材料内部被充分吸收而产生大量电子—空穴对,因而大幅度提高了光电转换效率。两侧P+层和N+层很薄,吸收入射光的比例很小,I层几乎占据整个耗尽层, 因而光生电流中漂移分量占支配地位,从而大大提高了响应速度。另外,可通过控制耗尽层的宽度W,来改变器件的响应速度。 光电二极管输出电流I和反偏压U的关系示于下图。 随着反向偏压的增加,开始光电流基本保持不变。当反向偏压增加到一定数值时,光电流急剧增加,最后器件被击穿,这个电压称为击穿电压UB。APD就是根据这种特性设计的器件。 三、雪崩光电二极管(APD) 根据光电效应,当光入射到PN结时, 光子被吸收而产生电子—空穴对。如果电压增加到使电场达到200kV/cm以上,初始电子(一次电子)在高电场区获得足够能量而加速运动。高速运动的电子和晶格原子相碰撞, 使晶格原子电离,产生新的电子—空穴对。新产生的二次电子再次和原子碰撞。如此多次碰撞,产生连锁反应,致使载流子雪崩式倍增,所以这种器件就称为雪崩光电二极管(APD)。 APD载流子雪崩式倍增示意图 APD的结构有多种类型,如下图示出的N+PΠP+结构被称为拉通型APD。在这种类型的结构中,当偏压加大到一定值后,耗尽层拉通到Π(P)层,一直抵达P+接触层
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