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IC芯片智能检测器 研究报告 宁夏大学物理电气信息学院 王鹏 指导老师：蔺金元教授 IC集成芯片在自动控制、、、、74系列、CD4000、、、、、、STU-I型数字集成芯片检测仪”。 本作品具有以下特点： 1.可以检测多种型号的数字集成芯片； 2.可以快速的检测出芯片的好坏； 3.将其检测功能加以利用，作为未知型号数字集成芯片的探测，可获得未知型号数字集成芯片的具体型号； 4.附加一些电子技术员常用的功能，如频率计、、5.操作简单，结果直观； 6.体积小，结构紧凑，携带方便； 7.有较强的保密性能，不易仿造； 8.成本低，可成为电子技术人员、、、89C51的P1、P3I/O口：既可作为输入口，又可作为输出口;为检测奠定了重要的基础。检测的基本原理是：根据芯片的功能、、89C51、、、、89C51的P1口、P3P3.0—P3.5共14条通用I/O线和检测插座构成了检测电路，用来和待检测集成芯片接口。 显示电路 由两片74LS273 、89014三极管、 4位LED（数码显示管）构成了显示电路。用于向用户提供输入信息及输出信息、0—9 ,10个数字键和“查询”键、、、、、、1）概要 单片机89C51的软件用MCS-51汇编语言编制，89C51内部有4KB的FLASH ROM（闪速EEPROM）,所以单片机内部最多可以固化4KB的程序代码。由于89C51具有强大的加密功能，其不可破译性保证了生产厂家的合法权益。另外，由于检测程序的庞大，我们必须扩展程序存储器：89C51的最大寻址空间为64KB，是绰绰有余的。因此，作者将主处理程序和最常用芯片的检测程序固化到89C51的内部程序存储器中并加密，其它的检测程序模块则存储在扩展的外部程序存储器中。这样，就算外部存储器中的程序被非法盗取也没问题：主程序已经加密，没有主程序来调用的检测程序模块是没有任何意义的。 （2）程序流程图 程序流程图见附图3。 （3）检测程序模块的设计举例 门电路集成芯片的检测 门电路集成芯片的检测比较简单，一般来说，一片门电路集成芯片包含若干个功能相同的逻辑门。检测的时候，只需要根据芯片的功能、74LS00( 4 — 二输入与非门 )： ANL P1,#0E4H ；使与非门的输入端都为 ；逻辑“0” ANL P3,#0C9H ORL P1,#0E4H ；拉高与非门输出端的 ；电平 ORL P3,#09H MOV A,P1 ；读入输出端的逻辑值 CJNE A,#0E4H,L00_ERR ；判断输出端的逻辑 ；值是否都 ；为逻辑“1”，如果不 ；为逻辑“1”，则为 ；“坏芯片”处理 MOV A,P3 ANL A,#3FH CJNE A,#09H,L00_ERR . . . L00_GO: AJMP END1 ;通过了所有步骤的 ；检测，是好芯片 L00_ERR: CLR 72H ;清除“好芯片”标志位 AJMP END1 从程序段可以知道，检测门电路集成芯片，可以直接利用其真值表来判断。 (2)组合逻辑电路集成芯片的检测 组合逻辑电路芯片在检测的时候，只需要根据逻辑器件的功能、74LS138( 3—8 译码器 )。 L138_1: ORL P1,#0F8H ;向通用I/O口P1送逻辑值， ORL P3,#3FH ;再向通用I/O口P3送 ；逻辑值，使芯片为 ；“不选通”状态。 MOV A,P3 MOV C,P1.7 MOV ACC.7,C MOV C,P1.6 MOV ACC.6,C ;把所有的输出值送到 ；累加器A。 CJNE A,#0FFH,J138_ERR ;判断累加器的值是否 ；正确，不正确则 ；作为“坏芯片”