电子显微分析 SEM信号与图像衬度研讨.pptVIP

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  • 2016-08-06 发布于湖北
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电子显微分析 SEM信号与图像衬度研讨.ppt

电子显微分析 SEM信号与图像衬度研讨

第二节 SEM信号与图像衬度 一、固体样品受入射电子激发产生的各种物理信号 二次电子,背散射电子,吸收电子,透射电子,特征X射线,俄歇电子, 阴极荧光及特征能量损失电子等。 二、物理信号像衬度(表面形貌衬度) 衬度:对比度;反差;亮暗差 一、固体样品受入射电子激发产生的各种物理信号 电子束与固体物质相互作用产生的信息示意图 固体样品受入射电子激发产生的各种物理信号 等离子激发 人射电子引起价电子云集体振荡 SEM信号的作用深度 如图: 俄歇电子的穿透深度最小, 一般穿透深度小于1nm; 二次电子小于10nm。 1、二次电子信号 被入射电子轰击出来的核外电子叫做二次电子。 大部分是价电子:一个高能入射电子被样品吸收时,可以在样品中产生许多自由电子,其中价电子电离约占电离总数的90%。所以,在样品表面上方检测到的二次电子绝大部分是来自价电子电离。 二次电子能量比较低 :一般小于50eV电子结合能很小,对于金属来说大致在l0eV左右 二次电子分辨率1.5-6nm 二次电子探头 接收到的新号 仅来源于样品表面5nm-10nm的深度。 即:距样品表面5nm-10nm的深度内二次电子的才能逸出表面, 这是二次电子分辨率高的重要原因之一。 探测器(二次电子及背散射电子) 二次电子:栅网电压正300V 背散射电子:栅网电压负50V(阻止二次电子) 2、背散射电子信号

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