EMI电磁干扰52421.docVIP

EMI 認證測試 學號：E9997002 姓名：王國馨 目錄 一、 簡介 3 二、 電磁干擾的量測原理 5 三、 EMI量測的介面與裝置連接步驟 6 四、 結論與建議 7 簡介 電磁干擾(Electromagnetic Interference, EMI) 是一種普遍地充斥在我們的生活週遭的物理現象，一般常見的電磁干擾可分為人為與自然的類型。例如，汽車引擎的瞬間點火動作、各式各樣的電磁輻射源或電子設備、又或者是在系統切換瞬間所產生的干擾信號、火花等。 除此之外的自然電磁干擾源則以閃電與宇宙射線為經常性地影響我們日常生活的物理現象。而隨著電子產品與系統的使用量日益普及，所涵蓋的層面則包括從航太電子、醫療設備、電腦設備到行動通訊產品，無一不是被密集地在各種應用領域上提高其系統的使用量，因此導致伴隨在各種系統的電磁干擾效應不斷地大幅成長。為了提高對電磁干擾的免疫能力或是抑制自身產生的電磁干擾量以降低對其他電子產品的的訊號干擾，於是採用具有電磁干擾防護的設計措施就變得日益重要。 圖 一、電子設備的兩面性 基於這些應用上的考量，因此在業界早已訂出適當的規範來定義電磁干擾的規格及其在量測環境上的標準，例如，在美國所使用的FCC規範、在歐洲所使用的VDE規範、在日本所使用的JIS規範等等。 其次，就電磁波的傳波途徑而言，可將電磁干擾分類為傳導性與輻射性的來源。其中傳導性輻射的形成係來自於緊貼著電力現或纜線上的輻射訊號傳輸到電子元件上或系統上所致，而輻射性的電磁干擾則是由電子系統的外箱、天線或其他零組件上產生之雜散諧波訊號所發出之電磁波，往往是干擾其他電子系統的電磁干擾源。隨著高科技的應用層面進展神速與日益廣泛，電磁干擾的議題也迅速地在各種應用面向上快速散播，日益高速的操作性能與高密度整合性的半導體電子元件無形中使得許多訊號的干擾源既難偵測且難辨認。因此，有必要藉由建立校正性的量測方法來建立一套因果關聯性的方法論，以達到確保其電磁相容性、進行電磁干擾源定位，以及偵測無線射頻的干擾等目的。 圖 二、由頻譜分析儀上所搭載之電磁干擾偵測套件可作為電磁干擾放射之診斷系統的前測工具，特別是在EMI/EMC測試認證的前測活動已被廣泛地採用電磁相容性測試的需求已成為頻譜分析儀的市場發展潛力的關鍵預測指標 電磁相容性(Electromagnetic compliance EMC) 對目前的工業規格制定當局與製造商而言一直是個熱門的議題，而由於在消費性電子元件不斷整合的結果，使得我們所居住的環境中幾乎是到處充滿了無數可能的電磁輻射源。因此，需要藉助電磁相容性的測試來確保各種電子產品的安全性與有效使用性。為了降低電磁干擾所帶來的風險，電子產品製造商往往會採用頻譜分析儀作為電磁相容性的可靠度測試工具。而一般常用的輕巧而多功能型頻譜分析儀則往往可搭載合適的天線組合、線路阻抗穩定網路(Line Impedance Stabilization Networks, LISNs)，以及近場式的偵測探棒來找出電磁干擾源。因此，採用頻譜分析儀的量測方案已成為大部分工程師在不願意重複往返電磁相容性實驗室，以進行相容性認證之既省錢又省時間的良策。通常頻譜分析儀所能涵蓋到的3 ~ 20GHz之頻段適用於檢查衛星通訊系統與通訊設備的運作測試，以及進行無線系統執行和故障修復的任務。 圖 三、隨著電磁干擾污染源的擴散而逐漸成長的風險示意圖 電磁干擾的量測原理 一般典型的電磁干擾認證測試活動通常在電磁干擾量測專用的密閉室(RF Chamber)或空曠場地(Open Side)上進行，只要利用接收天線往往就能捕捉到距離8 到10 公尺遠的電磁干擾放射源，此意謂著電磁干擾放射源可能來自於待測元件內部的任何一個位置點，因此用天線就可接收到任何來自於上方下面或是左右兩側所發出的電磁干擾放射源，如圖四所示。 圖 四、(Open Side)之電磁干擾測試 在作法上可將待測元件置於旋轉台上，而接收天線可設在距離待測元件遠達10公尺之處，且可隨意調整其電波指向的傾斜姿態，同時須把天線的輸出端連接到置於在屏蔽室內的頻譜分析儀並確保其隔離環境下之完美接地性。在量測過程中，置於旋轉台上的待測元件保持360度旋轉，如此可確保天線能夠捕捉到全向來源的電磁干擾放射信號，其中該天線也具有上下升降調整的功能以利於觀察到來自上方的電磁干擾放射源。然而，整個電磁干擾測試結果卻無法精準地辨別出在待測元件上詳細的電磁干擾放射源位置，特別是當電磁干擾放射信號太強而難以調整時，就必須事先確認調降電磁干擾放射信號，此時近場電磁干擾偵測套件即可用來找出待測元件上的電磁干擾放射源。 當用偵測探棒或探針來貼近電磁干擾放射源時，電磁場會經由偵測探棒或探針的感應而在頻譜分析