嵌入式系统教学基础程教学-04-20.docVIP

第一讲：基础课程教学：基本概念 常见数字电路基本知识 常见市售的数字集成电路的类型有三种，具体可以实现的功能有门电路如反相器、与/非/或门、计数器、锁存器、触发器、驱动器、译码器、存储器等。是测控硬件电路的基本构成部分。其基本性能参数为： 电源（V） 静态功耗 输出0 输出1 速度MHz 输入 扇出比 TTL 5±5% mA级 10mA 10uA 20 0.1mA 4 CMOS 3--8 uA级 1mA 1mA 1 uA级 不限 HCMOS 3--6 uA级 5 mA mA 20 uA级 不限 速度为反相器的速率； 常用运算放大器 运算放大器是常用模拟电路设计必须的基本电路，其工作原理基于理想运算放大器的工作原理，主要理论基础为： ① 两个控制输入端电流=0 ② 内部电路促使输入端电压=0 也即是说，由于外部其它电路参数变化，两个输入电压≠0时，内部电路的作用是根据两个输入端的变化趋势来改变输出高低来使得输入趋于0。常用运算放大器主要参数： ① 输入失调电压和漏电流：一般用作放大功能的运放，正常工作时用万用表测量的V+与V-之间的压差，它是芯片在制造过程中产生的误差，即稳定工作时，输入端电压不是绝对等于0，有一定偏差，常用器件LM324为3mV， OP07为0.1mV；输入漏电流为nA、pA级 ② 温漂、时间漂移，随着芯片环境温度的变化输入端失调电压产生的变化，早晚测量就有差别： ③ 速度（允许最高工作频率），电压上升率，0.1--30V/uS ④ 三个引脚与电源电压的关系，任何时候， 各引脚电压范围：Vss + 3V V Vdd ---1.5V, 驱动能力，20mA左右 应变式测力电路的基本特征 应变式传感器的基本工作原理，根据电阻定律，电阻的变化与材料的电导率、横截面积和导线长度有关。 常用测力传感器有两类，一是与几何尺寸变形有关的电阻应变仪，其结构如下图，由基片、应变丝和保护膜组成，其灵敏度系数大约为2左右, 实际传感器一般满量程输出为1mV/V； 另一类为主要与电导率变化有关的传感器，应变体的应变引起电导率变化，其灵敏度系数大约为100到数百左右，直接信号输出幅度达几百mV，前者的线性度、温漂系数较小，应用比较广泛； 注意它与压电传感器的区别，压电式为瞬间电荷，一般为交流信号测量加速度等交变载荷； ?电阻应变仪的电阻值选取原则，电阻值大电流消耗电流小、节能，但电阻丝制作工艺复杂，精度不容易保证；电阻值小，功耗大、发热容易引起误差，常见传感器选350Ω； 4、常见A/D转换器的基本原理 基本原理 ① 逐位逼近式A/D，在内部用权电阻网络产生一个电压，与输入进行比较： 每一位的比较过程为： 不同位数字开关对输出有一个确定的电压增量，比如Dn-1=1，其余等于0，输出为Vref（5V）/2，然后与输入信号做比较，例如8位A/D： Vin=3V Vref/2 （2.5V） D7=1 Vin 与 2.5V+1.25V D6=0 常用芯片：并口ADC0809（8路8位）； 串口 TLC2543（12位11路）、TLC1543（10位） 转换速度：10---100Kcps ② 双积分式A/D转换器的基本原理，基本步骤为： 输入信号正积分，通过电阻R给电容C定时充电，用1000个时钟，由于运放A的两个输入端电压和电流等于0，所以Vr = Vin，Vin大则输入的电流大，电荷储存在电容C上，运放C用做过零比较器； 恒流反向放电，电阻R上的电荷经过 – Vref 放电，由于Ir= Vref/R 恒定，所以C上的电压高，运放C负端到0的放电时间就长，对该时间的计数值就是A/D转换结果，放电计数0—4000。 为了防止累计误差，每次A/D转换中间，还有一次计数器、比较器清零的等过程。转换一次需要16800个振荡周期。 常用器件：MC14433，4位并行接口 数字万用表芯片ICL7106（液晶）,7107（数码管） 速度每秒 3—10次，用改变振荡频率来调节速度 嵌入式单片机模拟部分 常用电路类型：单片机、ARM、DSP、FPGA ARM：32位核，计算浮点数的速度是8位单片机的10万倍，寻址空间4G，对功能模块的控制寄存器共2M字节（51单片机128字节），产品的运作模式，ARM公司免费提供芯片的设计方案和开发工具，待用户产品进入市场后收取专利使用费，积累了大量的设计企业技术资源（包括软件与硬件）。推动了嵌入式行业的快速发展。 8051F410单片机，内部资源简介，共有32个引脚，其中电源5个 ①??12位 ADC （24 +1路温度），每个I/O口都可以为模拟输入 分辨率：速度：200ksps 数据窗口中断发