chap9_透射电子显微镜.ppt

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chap9_透射电子显微镜

第九章 透射电子显微镜 通常透射电镜由电子光学系统、电源系统、真空系统、循环冷却系统和操作控制系统组成. 其中电子光学系统是电镜的主要组成部分,通常称为镜筒. 高压系统 真空系统 操作控制系统 观察和记录系统 光学显微镜与透射电镜的比较 TEM成像系统可以实现两种成像操作:一种是将物镜的像放大成像,即试样形貌观察;另一种是将物镜背焦面的衍射花样放大成像,即电子衍射分析。 TEM成像系统中的物镜是显微镜的核心,它的分辨率就是显微镜的分辨率。 位错 Electron-Specimen Interaction Operation Modes Morphological, structural and elemental information can be obtained in different operation modes of TEM, which respectively are: Imaging Mode Diffraction Mode Spectrum Mode Ray Path in TEM Column 3 . 供电系统 透射电镜需要两部分电源:一是供给电子枪的高压部分, 二是供给电磁透镜的低压稳流部分。 电源的稳定性是电镜性能好坏的一个极为重要的标志。 所以,对供电系统的主要要求是产生高稳定的加速电压和 各透镜的激磁电流。 近代仪器除了上述电源部分外,尚有自动操作 程序控制系统和数据处理的计算机系统。 ??? 日本日立公司H-700 电子显微镜,配有双倾台 ,并带有7010扫描附件和 EDAX9100能谱。该仪器 不但适合于医学、化学、 微生物等方面的研究,由 于加速电压高,更适合于 金属材料、矿物及高分子 材料的观察与结构分析, 并能配合能谱进行微区成 份分析。 ● ? 分 辨 率:0.34nm ● ? 加速电压:75KV-200KV ● ? 放大倍数:25万倍 ● ? 能 谱 仪:EDAX-9100 ● ? 扫描附件:S7010   常见的一些透射电子显微镜 CM200-FEG场发射枪电镜 JEM-2010透射电镜 加速电压200KV LaB6灯丝 点分辨率 1.94? 加速电压20KV、40KV、80KV、 160KV、200KV 可连续设置加速电压 热场发射枪 晶格分辨率 1.4? 点分辨率 2.4? 最小电子束直径1nm 能量分辨率约1ev 倾转角度α=±20度 ?? ?????β=±25度 JEM-2010透射电镜 加速电压200KV LaB6灯丝 点分辨率 1.94? EM420透射电子显微镜 加速电压20KV、40KV、60KV、 80KV、100KV、120KV 晶格分辨率 2.04? 点分辨率 3.4? 最小电子束直径约2nm 倾转角度α=±60度 ????? ??β=±30度 Philips CM12透射电镜 加速电压20KV、40KV、60KV、80KV 、100KV、120KV LaB6或W灯丝 晶格分辨率 2.04? 点分辨率 3.4? 最小电子束直径约2nm; 倾转角度α=±20度 ??????? β=±25度 CEISS902电镜 加速电压50KV、80KV W灯丝 顶插式样品台 能量分辨率1.5ev 倾转角度α=±60度 ???????转动4000 FEI Tecnai 20 Objective Aperture Energy Dispersive Spectrometer View Screen Goniometer Selective Aperture CCD Camera Left Control Panel Right Control Panel Libra200 FE TEM 能提供形貌、结构、成分信息。 Characteristic X-Ray TEM 在TEM中,怎么样得到这些信息? 衍射 成像 能谱 * * 图为日立公司H800透射电子显微镜(镜筒) 透射电镜,通常采用热阴极电子枪来获得电子束作为照明源。 热阴极发射的电子,在阳极加速电压的作用下,高速穿过阳极孔,然后被聚光镜会聚成具有一定直径的束斑照到样品上。 具有一定能量的电子束与样品发生作用,产生反映样品微区厚度、平均原子序数、晶体结构或位向差别的多种信息。 工作原理 透过样品的电子束强度(取决于上述信息),经过物镜聚焦放大在其像平面上形成一幅反映这些信息的透射电子像,经过中间镜和投影镜进一步放大,在荧光屏上得到三级放大的最终电子图像,还可将其记录在电子感光板或胶卷上。 透镜电镜和普通光学显微镜的光路是相似的。 照相底板 照相底板 像的记录 较长 较短 焦长 较大 较小 景深 <10 约700 物镜孔径角 106× 103× 有

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