电源芯片测试规范.docVIP

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电源芯片测试规范

电源芯片测试规范 适用范围 此处的“电源芯片”主要指基于PCB板焊接的电源芯片,包括DC/DC、LDO电源芯片等,也包括小功率DC/DC电源模块;非PCB焊接的大功率DC/DC、AC/DC电源模块不在此列。 测试原理框图 测试原理框图如图1所示。 图1 电源芯片测试原理框图 测试环境 温度:25±2℃ 湿度:60%~70%; 大气压强:86kPa ~106kPa。 测试工具 可调电源(最好能显示对应输出电流) 可调电子负载 示波器 万用表 测试参数 表1 电源芯片测试参数 待测参数 必测项 选测项 测试方法简要说明 ×100%×100%1)设置可调负载,使电源满载输出; 2)调节,使输入电压为下限值,记录对应的输出电压U1; 3)增大输入电压到额定值,记录对应的输出电压U0; 4)调节输入电压为上限值,记录对应的输出电压U2; 5〕按下式计算: 电压调整率 U- U0 /U0 ×100% 式中:U为U1 和U2中相对U0变化较大的值;1)输入电压为额定值,输出电流取最小值,记录最小负载量的输出电压U1; 2)调节负载为50%满载,记录对应的输出电压U0; 3)调节负载为满载,记录对应的输出电压U2; 4)负载调整率按以下公式计算: 负载调整率 U- U0 /U0 ×100% 式中:U为U1 和U2中相对U0变化较大的值; U0×I0 / U1×I1 ×100% 电源输出端为空载时,记录此时对应可调电源对应的电压、对应电流,分别记为U、I,则: 空载功耗 U×I; 隔离电压 √ 只针对隔离DC/DC 隔离电阻 √ 只针对隔离DC/DC 芯片最大温升 (结温) √ 如果手册给出芯片结-壳之间热阻系数θJC: 将温度传感器或点温计贴于待测电源芯片壳体表面; 调节电子负载,保证满载输出,假定此时对应的输出功率为P0; 待电源芯片工作稳定后,读出对应芯片壳体表面温度,记为T0; 则芯片结温 T0+ P0×θJC; 如果手册给出的是芯片结-环境之间的热阻系数θJA: 调节电子负载,保证满载输出,假定此时对应的输出功率为P0; 记录测试现场对应环境温度,记为T0; 则芯片结温 T0+ P0×θJA 比较计算所得芯片结温(T1)与该电源芯片所允许最大结温(T2),设公司要求的此类电源温度降额为T3,则验证T2-T1 T3? 工作环境温度 √ 借助高、低温实验进行,观察在高温、低温环境下,电源对应的输出是否满足相应精度要求 存储环境温度 √ 借助环境实验进行,在进行存储之后,电源对应的输出是否满足相应精度要求 图2 电源纹波测试 图3 电源效率曲线 图4 输出功率曲线 ——以下无正文 电源芯片测试规范 版本号/修改码:A 第3页,共4页

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