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原子力学显微镜的工作模式
原子力显微镜的工作模式 航空宇航制造工程704系 ZY1007152 杜平梅 AFM的工作模式 原子力显微镜(AFM)的工作模式是以针尖与样品之间的作用力的形式来分类的,主要有以下3种操作模式: 接触模式(contact mode) 恒力模式(constant-force mode) 恒高模式(constant-height mode) 恒力模式和恒高模式 ? 恒力工作模式的扫描器速度受限于反馈回路的响应时间,但针尖施加在样品上的力得到很好的控制,故在大多数应用中被优先选用。 ? 恒高模式常被用于获得原子级平整样品的原子分辨像 接触模式的优缺点 非接触模式( non - contact mode) ? 针尖一样品作用力比接触式的小几个数量级,因此直接测量力的大小比较困难。 ?该范围的特点是力梯度为正,其大小随针尖一样品距离的减小而增大。 ? ? ?W—悬臂的共振频率 —有效弹性系数 m—质量 ?f’—力梯度 ?k—自由空间的弹性系数 非接触模式( non - contact mode) ? 非接触模式探测试样表面时悬臂在距离试样表面上方5~10 nm 的距离处振荡。 这时,样品与针尖之间的相互作用由范德华力控制,通常为10 ^-12 N ,样品不会被破坏,而且针尖也不会被污染,特别适合于研究柔嫩物体的表面。 ? 这种操作模式的不利之处在于要在室温大气环境下实现这种模式十分困难。因为样品表面不可避免地会积聚薄薄的一层水,它会在样品与针尖之间搭起一小小的毛细桥,将针尖与表面吸在一起,从而增加尖端对表面的压力。 非接触模式的优缺点 轻敲模式( tapping mode) ? 当针尖没有接触到表面时,微悬臂以一定的大振幅振动,当针尖接近表面直至轻轻接触表面时,其振幅将减小。 ?反馈系统通过调整样品与针尖间距来控制微悬臂振幅与相位,使得作用在样品上的力保持恒定,记录样品的上下移动情况即在Z方向上扫描器的移动情况来获得图像。 ?微悬臂的高频振动,使得针尖与样品之间频繁接触的时间相当短,针尖与样品可以接触,也可以不接触。 ?有足够的振幅来克服样品与针尖之间的粘附力。因此对样品的损害很小,适用于柔软、易脆和粘附性较强的样品,且不对它们产生破坏。 轻敲模式的优缺点 AFM三种工作模式 AFM的其他工作模式 除了上面三种常见的三种工作模式外,原子力显微镜还可以进行下面的工作: ?测向力工作模式(LFM) ?曲线测量 ?纳米加工
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