实验4-5电光调制器特性的测试1详解.pptxVIP

实验4-5电光调制器特性的测试 实验背景 外场对晶体宏观性质的影响，主要反映在晶体的折射率的变化上，这种变化虽小，但足以改变光在晶体中传播的许多特性，因而可以达到利用外场来控制光的传播方向、位相、强度、偏振态等，从而使输出光成为可利用的讯号光。 实验原理—电光效应 晶体的折射率因外加场而发生变化的现象为电光效应。 式中a和b为常数， 为E0=0时的折射率。由一次项aE0引起折射率变化的效应，称为一次电光效应，也称线性电光效应或普克尔电光效应（pokells）；由二次项引起折射率变化的效应，称为二次电光效应，也称平方电光效应或克尔效应（kerr）。外电场可以是直流场或交变场，频率可高达超高频或微波的范围。 实验原理—电光效应 实验原理--折射率椭球 折射率椭球（习惯称光率体）是描述晶体光学性质常用的示性面，在各向异性介质的主轴坐标系中，光率体用下式描述： 式中n1 、n2 、n3为该光率体在主轴方向上的折射率，称为主折射率 实验原理—光的干涉 在晶体的光学性质研究和应用电光效应时，经常要使用两个偏光镜，一个偏光镜用于产生线偏振光，称为起偏镜，另一个偏光镜称检偏镜或分析镜，它可使具有一定光程差的两个相干的线偏振光在同一个平面内振动，引起干涉而产生强度的变化。 当检偏镜和起偏镜偏振方向互相垂直时，有下图 实验原理—线性电光系数 实验原理—线性电光系数 可以看出，沿X1方向加电场后，折射率椭球绕X2轴与X3轴都有旋转。光率体在X1X2平面内转了45度，在X‘1和X’2方向上主折射率为： 这种折射率椭球的变化（变形）必然造成光沿某一方向传播时双折射性能的变化，而这种变化与外加电场直接相关，这就是电光效应应用于实现光调制的基础。 实验原理—电光调制器 电光调制器：如下图为横向电光调制器的实验原理实验图： 实验原理—电光调制器 当入射光沿着c方向射入晶体时，加上外电场E1通过检偏镜P2的两光波是同频率、等振幅、振动在同一方向的两个相干光。被调制光强I与输入光强I0之间用下式表示： 为半波电压 如下图为在电光调制晶体上加直流电压与被调制光强的关系曲线 实验原理—电光调制器 （1）VDC=0，VAC=V0sinwt，输出光强只有调制信号的偶次谐波。 （2）0VDCVπ/2，VAC=V0sinwt，此时产生严重失真； 实验原理—电光调制器 （3）VDC=Vπ/2(相位差为90度)，VAC=V0sinwt，此时的被强制光强公式为 实验装置 主要仪器装置有：电光调制器、He-Ne激光器、直流交流电源、双踪示波器、光探测器、检流计、起偏镜、检偏镜、减光镜、λ/4波片等。 本实验所用电光调制晶体为LiNbO3，为3m点群，负单轴晶体，o光折射率为2.286， e光折射率为2.200，He-Ne激光器波长为λ=632.8nm，电光调制晶体的L=23mm，D=2.5mm。 实验内容 1、调整光路： 用检验光栏验证激光束与光具座的中心是否平行，调节光探测器的位置，使激光束进入光探测器，然后加上遮光筒，降低室内散射光对测量的影响。 2、使 ，测 ： 调整检偏镜的相对位置，使检偏镜方向平行于起偏镜方向，测出输出光强。 3、使 ，调光轴使其平行于激光束，测 ： 调检偏镜的相对位置，使检偏镜方向垂直于起偏镜方向，调节光轴使其平行于激光束，测得输出光强即为最小光强。未加外场时，测得静态消光比。 4、加 ，测 ： 在 状态下，加直流偏压 ，直流偏压为零时，测得最小输出光强，直流偏压为半波电压时，测得最大输出光强，计算动态消光比。 5、绘制 关系曲线： 直流偏压为零起，不断改变其数值，记录I的数据，绘制关系曲线即工作曲线。绘图时，注意误差的应用，使曲线平滑。 6、在电光调制器上再加 ，观察调制光强的变化加上交流电压后，利用双踪示波器观察调制光强的变化情况。连接示意图为： 分三种情形观察，并给出合理解释； 7、在电光调制晶体前加一个1/4波片，使VDC=0，改变 VAC，观察调制光强的变化情形； 8、实验结束整理仪器。