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影像测试项目说明文档 本文档只是针对测试项目的测试方法，算法，及测试结果的评判进行说明。测试分为两个部分， 一: RAW Image 测试 二:YUV image 测试 Part 1. RAW Image 测试 一：Dark Noise 测试 测试目的：当摄像模组没有接收到任何入射光线时，测试影像的暗电流对图像的影响水平。 测试条件：模组处于全黑的环境 模组寄存器设定：Global Gain: 1/4 Max gain（ analog gain x color gain） Integration Time: 15fps 测试顺序：1.模组用黑色的物体盖住确保没有光线进入，或者把模组放在一个全黑的环境里。 2.抓取一副图像 3.保存为 Raw Bayer Pattern 格式 分析： 1.确定bayer pattern 的格式 2.计算每个color channel 的亮度平均值及标准偏差值 参考公式： 二：Dead Pixel 测试 测试目的：1.确定Dead Pixel的位置，计算Dead pixel 个数。 2.Dead Pixel定义为当输入光线亮度变化而且sensor 的设定没有变化时，pixel 的亮度仍然保持不变。 测试条件：Gray card , D65 light source 模组寄存器设定：Global Gain: 1/4 Max gain（ analog gain x color gain） 测试顺序：1.调整光照度到600lux，调整模组的曝光时间，使影像中最亮部分的亮度值到达200 digital level。抓取测试目标的影像图片，保存为Raw Bayer Pattern 格式，命名为I1 2.曝光时间不变，改变的光源的强度为原来的一半，即300lux，抓取测试目标的影像图片，保存为Raw Bayer Pattern 格式，命名为I2 分析： 1.Image I1 中的每个pixel 的亮度值与image I2中相应位置的pixel 的亮度值相减，如果相减的结果小于10 则认定为一个dead pixel,记录下该点的坐标 2.报告出最终整个模组的dead pixel 个数，及每个Dead Pixel 的坐标。 三：defect pixel 测试 测试目的：1.确定Defect Pixel的位置，计算Defect pixel 个数。 2.Defect Pixel定义为5X5 中心点与周围每一个点的亮度之差与周围点亮度的平均值之比值大于20% 测试条件：Gray card , D65 light source 模组寄存器设定：Global Gain: 1/4 Max gain（ analog gain x color gain） 测试顺序：1.调整光照度到600lux，调整模组的曝光时间，使影像中最亮部分的亮度值到达200 digital level。抓取测试目标的影像图片，保存为Raw Bayer Pattern 格式。 分析： 当33 点为B 或 R 时，坏点的依据为 ij 为周围的八个点的坐标值（11 13 15 31 35 51 53 55 ） 为亮的坏点 ij 为周围的八个点的坐标值（11 13 15 31 35 51 53 55 ） 为暗的坏点 当33 点为G 时，坏点的依据为 ij 为周围的八个点的坐标值（11 13 15 31 35 51 53 55 ） ij 为周围的八个点的坐标值（11 13 15 31 35 51 53 55 ） 为暗的坏点 记录最后坏点的个数。 PART2: YUV Image test 1.MTF 测试 测试目的： 测试模组对特定频率的响应程度，即锐利度。 测试条件：ISO12233, D65 light source, 600lux 模组寄存器设定：Edge enhancement off AE AUTO AWB AUTO 测试顺序：1.调整模组目标亮度，使影像中最亮部分的亮度值到达200 digital level。 2.调整模组到测试chart之间的距离，使抓取的影像大小为4：3 比例部分 3.保存图片的BMP格式。 分析：使有image test软件工具，产生水平，垂直的MTF曲线图。记录水平，垂直在MTF50时的空间频率响应值，单位为cycle/Pixel. 2.Resolution 测试 测试目的： 测试模组分辨细节的能力，即解析度。 测试条件：ISO12233, D65 light source, 600lux 模