粉末X射线衍射仪器的应用(精选).docVIP

粉末X射线衍射仪器的应用 向立人 （四川大学化学学院 成都 610064） 摘要 粉末分析是一种重要的晶体结构和物相分析技术。本文简要介绍粉末X射线衍射仪器的发展、原理及其在材料科学中的应用。 关键词 粉末X射线衍射分析分析法 材料科学 1．引言 1895年W.K.R?ntgen发现X射线，这是一种具有很强穿透力的电磁辐射。1901年获第一个诺贝尔物理学奖。1912年，W.L.Bragg和W.H.Bragg建立X射线反射公式，为晶体X射线衍射法奠定了物理基础，1915年获诺贝尔物理学奖。1916年，P.J.W.Debye和J.A.Scherrer发明粉末法测定晶体结构，1936年，J.D.Watson和F.H.C.Crick根据M.Wilkins对DNA的X射线衍射数据，提出DNA双螺旋分子的结构模型，1963年获诺贝尔生物学奖。 粉末X射线衍射分析仪器得到很快的发展。50年代以前，出现照相式X射线衍射仪，50年代初，研制出目前最广泛使用的X射线衍射仪，60年代设计成功了四圆衍射仪，与此同时采用聚焦原理设计了多晶X射线衍射仪，60年代采用各种辐射探测器制成X射线衍射仪，继而又设计了旋转阳极靶X射线衍射仪。80年代研制PSPC探测器X射线衍射仪。近十余年以来，由于X射线源和辐射源探测设备的不断更新、高速度大容量电子计算机和工作站的广泛应用，尤其是分子和