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无损检测公式总结 第一章 射线检测 1 各种形状焦点尺寸d ：圆形和方形焦点：d a ；椭圆形和长方形焦点：d （a+b）/2 d的范围一般在0.5～5mm之间 2 放射性元素衰减定律：A A0e- λ τ A0 — 放射性物质的初始活度（Bq）；A — 经过时间τ 以后放射性物质的活度（Bq）； e — 自然对数的底； λ — 衰变常数（s-1）。 3 除Bq以外，也常用Ci表示放射性活度，它们之间的换算关系为1Ci 3.7×1010Bq。 4 半衰期τ1/2 τ1/2＝（ln2）/λ 0.693 /λ（s） 5 单波长射线的强度与透照厚度tA之间应遵循如下的指数衰减规律：I I0e-μ t 式中 μ—射线的线性衰减系数（mm-1） 6 半价层tA1/2的数学表达式：tA1/2＝（ln2）/μ 0.693/μ 7 射线照相的象质计灵敏度计算式：K φ/tΑ×100% K—以百分数表示的象质计灵敏度；tA—实际的射线透照厚度（mm）； Φ—底片上可以识别的最细金属线的直径（mm）。 8 黑度：强度为J0的可见光沿法向入射到照相底片上的某点，设透过底片的可见光强度为J，则该点的黑度为 D lg J0 / J 式中的J / J0称为透光率 9 胶片的感光度S：S＝1/HS HS --- 片基加灰雾黑度再加2.00黑度所需的曝光量 Gy 。 10胶片特性曲线的平均斜率Gm定义为：Gm D2—D1 / lgH2—lgH1 2.0/ lgH2—lgH1 式中D1--片基加灰雾黑度再加1.50的黑度；D2 --片基加灰雾黑度再加3.50的黑度； H1--产生D1黑度所需的曝光量 Gy ；H2--产生D2黑度所需的曝光量 Gy 。 11 讨论射线硬度对底片影像质量的影响 lgIt-lgI0 t -0.434μ tA；ΔlgH -0.434μΔtA ； 重要：ΔD＝-0.434GμΔtA；ΔD为透照反差，“－”号表示底片黑度随透照厚度的增加而减小。 重要：ΔtA /tA 2.3ΔD/GμtA ΔtAmin即人能从底片上观察到的透照厚度的最小变化，称为该照相底片的绝对灵敏度，ΔtAmin/tA则为其相对灵敏度。 12 几何不清晰度：Ug L2d /L1 d —焦点尺寸（mm）；L2—胶片至工件上表面的距离（mm）；L1—射线源到工件上表面的距离（mm） 13考虑射线照相几何因素的影响，式 1-15 应写为： ΔtAmin /tA 0.023/Gμσ tA 式中的σ 1，称为几何修正系数。Ug越小，σ 就越大 14重要：考虑散射线对透照灵敏度的影响：ΔtAmin/tA 0.023（1+n）/GσμtA n — 散射线比例，即胶片接受的散射线的强度与入射射线强度之比 超声波检测 1 声速C（m/s）、波长λ（m）和频率f（Hz）之间的关系：C fλ 2 近场长度可近似表示为： N≈D2/4λ D － 直探头压电晶片的直径（mm）；N － 近场长度（mm）；λ － 超声波波长（mm）。 3 零值指向角θ0： 声束边缘的声压为其轴线声压的10％的指向角可表示 4 反射和折射定律： 5 就有机玻璃/钢界面而言，第一临界角α LI ≈27°,第二临界角 α LII ≈57.5° 6 超声波在无限大界面垂直入射： 界面的声压反射率Rp和声压透射率Dp： Rp Pr/Pe （Z2-Z1）/（Z2+Z1） ；Dp Pd/Pe 2Z2 /（Z2+Z1） 声压往复透过率Ep的表达式为：Ep 4Z1Z2/（Z1+Z2）2 7 声阻抗为Z1的均匀介质中存在声阻抗为Z2的大面积薄层（公式不用记，但简化结论要知道） 垂直入射时声压反射率 d － 薄层界面的厚度（mm）; λ2 － 薄层界面内超声波的波长（mm） 1）当d为1/4λ2的奇数倍时，Rp取极大值； 2） 当d为1/2λ2的整数倍时，Rp取极小值。 3）焊缝中由裂纹形成的薄层界面而言，Z2 Z1。在这一条件下如果d很小 8 声阻抗分别为Z1和Z3的两种介质之间存在声阻抗为Z2的大面积薄层 当Z2不很小且d为21λ2的整数倍时：声压往复透过率Ep 4Z3Z1/（Z3+Z1）2 d 1/4λ2时：11 分贝（dB）：n 10lg（I2/I1） n － 分贝（dB）； I2/I1 － 声强比12 用声压表示：n 20lg（P2/P1） 13在探伤仪垂直线性良好的前提下，式（2－20）可以改写为： n 20lg（H2/H1） n 0表示增益，n 0表示衰减。 14 在1:1水平定位条件下，缺陷至斜探头入射点的水平距离l可直接从荧光屏时基线上读出，继而不难算出缺陷在检测平面下的埋藏深度h 直射法：h l/K 一次反射法：h 2t-l/K t为母材厚度 15 记