第2章电子电路故障.ppt

第2章组合电路测试与故障诊断 什么叫算法？ 第2.1节 通路敏化 基本概念-----什么是敏化通路？ 敏化通路法的实施步骤及举例 关于一维敏化与多维敏化的讨论 第2.2节 d 算法 d 算法的基本思想 d算法的数学工具 d算法的实施步骤及举例 第2.3节 扩展 d 算法 扩展 d 算法的数学工具 扩展 d 算法的实施步骤及举例 第2.1节 通路敏化2.1.1. 通路敏化的基本定义 1.Eldred在1959年提出了第一篇关于组合电路的测试报告，开始 了数字系统故障诊断的研究。 2.D.B.Armstrong根据Eldred的基本思想，在1966年提出了一维通 路敏化的方法，其主要思路是对多级门电路寻找一条从故障点到可及输出端的敏化通路，使在可及端可以观察到故障信号。 3.1967年Schneidr用例子指出单通路敏化法并不能找出所有的故障。 4.同年Roth提出了多通路敏化法的D算法 第2.1节 通路敏化2.1.1. 通路敏化的基本定义 第2.1节 通路敏化2.1.1. 通路敏化的基本定义 例： 主输入端：x1,x2,x3 主输出端：y 通路：a f h , b d f h , b e g h , c g h 敏化通路：敏化 a f h 通路 赋值：d = 1 ，g = 0 敏化：a f h 通路上的逻辑变化都能传输到主输出端 y（故障传播或前相跟踪） 赋值条件检查：赋值条件能否在主输入端实现（一致性检查或后相跟踪） 由 g = 0，必须 e = 1 或 c = 1 或二者均为 1 由 d = 1，必须 b = 1 即 e = 1 综上：e = 1 即 x2 = 1 c = x (随意） 利用敏化通路进行测试---可测试 a f h 通路上的故障 T={（01x) ; 0} 无故障； T={(01x) ; 1} a,f,h-s-a-1 故障测试 T={（11x) ; 1} 无故障 T={(11x) ; 0} a,f,h-s-a-0 故障测试 2.1.2 通路敏化法 2.1.2 通路敏化法 3.通路敏化法的实施步骤 故障表现--故障赋值 故障传播（通路敏化，前相跟踪）--敏化条件 一致性检查（后相跟踪）---敏化条件能否在主输入端实现 测试确定---测试函数的寻求 4.举例： 用通路敏化法求 1_s_a_1 的测试 （1）故障表现 系统定义： D = 0 对于 1_s_a_1 故障， 则 故障表现为 D ； 1_s_a_0 故障， 则 故障表现为 ； 2.1.2 通路敏化法 （2）故障传播 通路 L1-L10-L12 敏化（见图）：与门赋“1”，即 L5 和 L8 赋 “1”； 或门赋“0”，即 L11 赋 “0”； D 传播到主输出端，仍为 D； （3）一致性检查 由赋值：L5=1，则要求 L2 = x2 = 1； L8=1，则要求 L7=1，即 x2 或 x3 或 x4 为 1； L11=0，则要求 L9=L7=1，即 x2 或 x3 或 x4 为 1； 综上：x2 = 1，x3 = x4 = x，在主输入端可实现敏化条件； （4）测试确定 综上可得 x1-s-a-1故障的测试如下： T={（01xx）；0} 无故障测试； T={（01xx）；1} x1,L10,L12-s-a-1故障测试； 优点：简单，存储空间小，有拓扑的直观性。 2.1.2 通路敏化法 自从1966年Armstrong提出一维通路敏化法以来，数字电路测试矢量自动生成理论的研究课题经历了一个从雏型到成熟、从理论到应用、从实用到完备的发展历程。 2.1.3 讨论 问题：上面分析的是一维敏化，即每次只敏化一条通路。但一维敏化是不是一种算法呢？先看几个例子： 例1：无扇出的树形电路 故障：a = x3 = D 通路：a b c (一维敏化） 敏化：x4 = 1 x1 = 0 或 x2 = 0 = 0 或 =0 =0 或 =0 一致性检查通过 测试：T={00D11111；D} 无故障测试 T={00D11111； } a,b,c-s-a-1 故障测试 结论：由于无扇出电路输入端是独立的，赋值自由，不相互约束。因此，每条通路的一维敏化都是成功的，可求出电路的最小完备测试集。 2.1.3 讨论 例2：有扇出汇聚电路