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The Dynamic Performance Test 11、动态性能测试 1]. 目的。 本教材描述了目前我们磁头的动态性能测试的基本概念，我们将试图解释一些D.P(动态性 能)参数的定义与测试过程.此教材是为那些新进厂的对D.P测试没有什么知识的人而没计的 。 [2]. 为什么我们要进行 D.P 测试呢？ 对不同的的 D.P 参数的测量，将帮助我们对磁头的读写能力进行分析与判断，经过 D.P 测量，我们将能更好地保证寄给客户的产品的质量。 [3]. 目前我们 D.P 测量都用些什么仪器呢？ 到目前为此，我们共有 D.P 测试仪器用于生产线测试： GUZIK 读写分析器 ：(RWA， 由美国 GUZIK 公司制造)。 Agilent (由美国 HP 公司制造)。 数字波形/频普分析器 (DSA)。 数字分析器 (NTBL，由日本 NTBL 公司制造)。 它们在磁头/ 磁介质的记录分析上都有较为良好的功能。 [4]. 目前我们 D.P 都测试一些什么参数呢？ 在 D.P 测试中，我们可以测量许多参数，通常我们在生产中并不需要对所有的参数进行 测量，本文将只简单地 介绍一些普通参数的定义与测量过程，实际工作中，我们 也设计许 多测试项目给工程人员作试验，或失败分析等。如你有兴趣可参 阅有关的资料。 如上面提到的，D.P 是测试磁头的读写能力的，所以其总体的测试方法是 ：写一个信号 到碟上，然后用同一个磁头将信号读回，进行分析，以了解磁头的读写能力，通常我们用如下 的一些参数来描述读回的信号 ： TAA ( 轨道平均幅值 )Track Average Amplitude 轨道平均幅值是磁头在确定轨道读回的信号的平均幅度值，在实际情况中信号幅度 是不稳定的，如图所示，下图所示的信号包含多项表征信号特征的参数，上下两虚线为信号峰值点的连线称为包络线。信号的平均幅值就是通过计算包络曲线的平均值而得出正向轨道平均幅值(TAA+)和负向轨道平均幅值(TAA-)的。 TAA+ 正向轨道平均幅值 TAA- 负向轨道平均幅值 TAA 轨道平均幅值 TAA Asymmetry 轨道平均幅值对称性 Modulation Peak to Peak(%) = (TAA RawDataMax – TAA RawDataMin) / TAA * 100 Modulation Pos(%) = (TAA RawDataMax –TAA) / TAA * 100 Modulation Neg(%) = (TAA RawDataMin – TAA) / TAA * 100 图1 : 轨道平均幅值的测量。 4.2 Resolution(分辨率) 在通常情况下我们希望信号幅度越大越好。由于磁头和DP测试系统频率特性的原因，信号的幅度会随信号频率的升高而逐渐下降。而磁头在碟上的读写信号的频率范围是非常大的，我们不希望高频信号相对于低频信号衰减太大，因而提出了分辨率(Resolution)这一 参数.分辨 率给出的信息包括频普的外形或通常的频率响应，通常我们希望分辨率更接近于100% . 4.3 覆盖率 (Overwrite) 在磁碟机的信息读写过程中，旧的信息并不是被消抹掉的，而是新的信息直接覆盖在其 上面，这一过程将导致只有部分旧信息被消抹掉，而剩下的将变成噪音附加在新的信息上。 我们用覆盖率来做这种情况的最坏状态的测量，其定义为低频信号在用高频信号覆盖前 后的幅值的比值，在磁记录系统中，新信息对旧信息的覆盖率是一个非常重要的参数，如 果旧的信息不能被完全滤出，其将变成连续的噪音使读出信号偏移 (这一点将在下一节讨论)。 影响覆盖率的主要有 ：隙口的长度，介质的厚度，和介质材料的待性，等等... ，覆盖率 的测试过程如下。 写一个低频信号在碟上。 用带通过滤器(OW filter )读低频信号的轨道平均幅值 “A1”. 用高频覆盖低频信号。 用带通过滤器(OW filter)再次读低频的轨道平均幅值 “A2”. 计算覆盖率： 4.4 波形宽度 ( PW50 ) 波形宽度是孤立波在中间 (波峰的50% )位的宽度 (时间或长度 )，PW50 描述了读/写通道的频率的外形， 我们用孤立波幅值的 50% 的阀值来计算上升与下 降沿之间的时间差