12-1_光的干涉和干涉仪3绪论.ppt

教学目的： 1. 深入理解两个光波的非相干叠加和相干叠加，深入理解相干条件和光的干涉定义； 2. 了解光干涉的本质及双光束干涉的一般理论； 3. 牢固掌握扬氏双光束非定域分波前干涉装置的干涉光强分布的各种规律； 4. 牢固掌握分振幅等顷干涉的条纹形状、光强分布规律、定域问题及其应用； 如图所示，两同频同振动方向光波迭加区域内某点P,在极短时间内合光强为： 干涉场中某一点P附近条纹的清晰度用条纹的对比度(或称可见度)来量度，K定义为： Imax和Imin分别为P点附近的强度极大值和极小值。 当Imin=0时，K＝l，可见度有最大值(完全相干）。 当Imax＝Imin时，可见度降为零，条纹消失（非相干）。 当0 Imin Imax 时，0 ＜K ＜1（部分相干）。 上面的讨论假设在 内的光谱强度是等强度分布的。实际光源并非等强度分布，但仍由上式决定其最大光程的数量级。 小结：条纹对比度主要影响因子: （1）光源大小 光源临界宽度： 空间相干性（横向相干宽度）： 第四节 平行平板产生的干涉—等倾干涉 条纹半径： 三、 楔型平板产生的等厚干涉 比较：等倾干涉条纹和牛顿环的异同点 同：1.均是一些同心圆环； 2.条纹间距随离开环中心距增大而减小，即中间疏边缘密。 异：1.干涉级： 牛顿环条纹干涉级由中心向外增大；等倾圆环干涉级中心向外减小。 2.中心条纹： 牛顿环中心总是暗（或亮）的；等倾圆环中心由对应的干涉级决定。 劈尖 不规则表面 等厚干涉条纹照片 等厚条纹能够反映两个表面所夹的薄层厚度变化情况。因此可以利用等厚条纹的条纹形状、条纹数目、条纹移动以及条纹间距等特征，检验元件的表面质量，局部误差(表面光洁度)，测量微小的角度、长度及其变化等。 1）测量薄片的厚度： 调节观察显微镜对准平行平板之 间的楔形空气层，看到空气层的直 线等距条纹,若测出条纹间距e，则 可算出薄片的厚度: G1 F G2 D 3、 等厚条纹的应用 2）检验作为长度标准的端规: 端规是一个上下两面经过抛光的平行平面钢块。D1是待检规，D2是同一标定长度的标准规，检验时将两规紧贴在一钢质平台上，并将一块透明玻璃板G放在两规之上。 D 3）平板平整度的检测 条纹 条纹 条纹 ？ ？ 1、平面干涉仪 结构 S S:单色光源； M M:透光玻璃片； L L:准直透镜； G1 G1:标准平板； G2 G2:待测平板； O O:探测仪。 楔形空气层 从标准板下表面和待测平板上表 面反射的光经透镜L和玻璃片M反射 会聚于透镜的焦平面O处。反射光形 成的干涉条纹定域于标准平板和待测平板之间的空气层表面。 四、典型干涉仪 2、测定平板表面的平面度及局部误差 等厚干涉条纹是一组相互平行的等距直线 如果条纹弯曲表明待测平板表面不平 对应的平面偏差，即凹陷或凸起的厚度为： （一个H对应是半个波长） 待测平板是理想平面 条纹弯曲的矢高为H， 条纹间距为e 待测平板的平面度为： 对于局部缺陷的情况，局部误差： 3、测量平行度及楔角 为了测量平行平板的平行度，应调节仪器使标准平面上反射光移出视场外，并在视场中观察待测平行平板上下两个表面产生的等厚干涉条纹。如果在直径为D的平行平板上观察到的条纹数目为N，则最大厚度差为： (n为平板折射率) 2. Michelson 干涉仪 1） 构造和光路 振幅分割型双光束干涉仪； 许多现代干涉计量仪器的基础。 不同方位看到的Michelson 干涉仪装置 B: beam-splitter(分束镜); C: compensator(补偿器); M1, M2: mirrors (反射镜) S M1 M2 G1 G2 E M2? a1 a1′ a2 a2′ 半透半反膜 补偿板 反射镜 反射镜 光源 观测装置 虚薄膜 2）工作原理 光束 a2′和 a1′发生干涉 ▲ M2?、M1平行 ?等倾条纹 ▲ M2?、M1有小夹角 ?等厚条纹 补偿板作用：补偿两臂的附 加光程差。 十字叉丝 等厚条纹 S M1 M2 G1 G2 E M2? a1 a1′ a2 a2′ 半透半反膜 补偿板 反射镜 反射镜 光源 观测装置 虚薄膜 迈克耳孙等倾干涉 迈克耳孙等厚干涉 3）光程差计算 ∵ M2′M1为虚薄膜，n1=n2=1 ∴ 光束 a2′和 a1′无半波损失且入射角i1等于反射角i2 4）极值条件 相长 相消 若M1平移?h时光程差改变 2?h 干涉条纹移过N条 M 2 M 1 等 倾 干 涉 条 纹 迈克耳逊干涉仪的干涉条纹 M 2 M 2 M 1 M 1 等 倾 干 涉 条 纹